[發(fā)明專(zhuān)利]擠壓件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610131830.3 | 申請(qǐng)日: | 2002-11-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101126768A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-02-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 竹腰清;保坂久富;荻原順一;初鹿國(guó)彥;臼井孝公;金子尚史;早坂伸夫;井戶義幸 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會(huì)社;IBIDEN股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R1/04 | 分類(lèi)號(hào): | G01R1/04;G01R31/28;G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司: | 永新專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人: | 夏青 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 擠壓 | ||
1.一種擠壓件,其特征在于,其具備接觸器、晶片固定裝置以及存放在該晶片固定裝置上的半導(dǎo)體晶片(W),
上述接觸器具有耐熱片基以及在該耐熱片基上形成的導(dǎo)體電路,被用來(lái)在不低于160℃的溫度下執(zhí)行可靠性評(píng)估測(cè)試,上述耐熱片基的熱膨脹系數(shù)為1~50ppm/℃,
在使該接觸器的連接襯墊部分和半導(dǎo)體晶片的電極襯墊完全接觸的狀態(tài)下,將該晶片固定裝置、該半導(dǎo)體晶片及該接觸器組合成一體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擠壓件,其特征在于:上述耐熱片基的熱膨脹系數(shù)為平面方向上的熱膨脹系數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擠壓件,其特征在于:上述耐熱片基的熱膨脹系數(shù)為2~30ppm/℃。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擠壓件,其特征在于:上述導(dǎo)體電路具有凸起。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的擠壓件,其特征在于:上述耐熱片基由從耐熱樹(shù)脂、金屬、半導(dǎo)體以及陶瓷中選擇的至少一種材料形成。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的擠壓件,其特征在于:上述耐熱片基的耐熱樹(shù)脂由聚酰亞胺、雙馬來(lái)酰亞胺三嗪樹(shù)脂、具有浸漬了玻璃織物或碳纖維的加強(qiáng)材料的耐熱樹(shù)脂中的至少一種材料形成。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的擠壓件,其特征在于:上述耐熱片基的金屬由鋁、銅、不銹鋼、不脹鋼合金、不脹鋼中的至少一種材料形成。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的擠壓件,其特征在于:上述耐熱片基的陶瓷由氮化鋁、金剛砂中的至少一種材料形成。
9.根據(jù)權(quán)利要求1~8中任一項(xiàng)所述的擠壓件,其特征在于:在除了執(zhí)行該可靠性評(píng)估測(cè)試時(shí)導(dǎo)通的部分之外的表面上設(shè)有絕緣涂層。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擠壓件,其特征在于:上述耐熱片基上形成絕緣層。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擠壓件,其特征在于:上述耐熱片基上形成絕緣層,絕緣層中使用氧化硅膜。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擠壓件,其特征在于:還在該接觸器的接觸襯墊與電極襯墊之間夾著各向異性導(dǎo)電膜。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擠壓件,其特征在于:該晶片固定裝置包括磁力材料。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類(lèi)儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類(lèi)儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過(guò)負(fù)載保護(hù)裝置或電路





