[發(fā)明專利]可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610131799.3 | 申請日: | 2006-10-12 |
| 公開(公告)號: | CN101163169A | 公開(公告)日: | 2008-04-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃國峰 | 申請(專利權(quán))人: | 智邦科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H04M3/22 | 分類號: | H04M3/22;H04Q1/20 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人: | 黃小臨;王志森 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 網(wǎng)絡(luò)設(shè)備 裝置 | ||
1.一種可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,用以搭配一網(wǎng)絡(luò)設(shè)備使用,該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備具有一以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊及一網(wǎng)絡(luò)插座,該測試裝置包括:
一網(wǎng)絡(luò)連接器,具有多個(gè)網(wǎng)絡(luò)管腳,該等網(wǎng)絡(luò)管腳具有一第一管腳,一第二管腳,一第三管腳與一第四管腳;
一電阻,該電阻的一端耦接至該第一管腳與該第二管腳;以及
一發(fā)光二極管,該發(fā)光二極管的陰極耦接于該電阻的另一端,該發(fā)光二極管的陽極耦接于該第三管腳與該第四管腳;
其中,當(dāng)該測試裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時(shí),該測試裝置根據(jù)該發(fā)光二極管產(chǎn)生的光信號,辨識該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的損壞狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中該網(wǎng)絡(luò)連接器系為一RJ45接頭、且該RJ45接頭的第一管腳為一RTS管腳,該RJ45接頭的第二管腳為一DTR管腳、該RJ45接頭的第三管腳為一TXD管腳及該RJ45接頭的第四管腳為一RXD管腳。
3.如權(quán)利要求1所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中當(dāng)該測試裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時(shí),若該發(fā)光二極管產(chǎn)生間歇性閃爍的光信號,則表示該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊未損壞。
4.如權(quán)利要求1所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊更包括一開關(guān)晶體管與一保險(xiǎn)絲,用以控制該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的供電動(dòng)作。
5.如權(quán)利要求4所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中當(dāng)該測試裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時(shí),若該發(fā)光二極管產(chǎn)生持續(xù)發(fā)亮的光信號,則表示該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該開關(guān)晶體管損毀,若該發(fā)光二極管未產(chǎn)生光信號,則表示該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該保險(xiǎn)絲損毀。
6.如權(quán)利要求4所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中當(dāng)該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備處于初始化狀態(tài)中時(shí),若該發(fā)光二極管產(chǎn)生持續(xù)發(fā)亮的光信號,則表示該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該開關(guān)晶體管損毀。
7.一種可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,用以搭配一網(wǎng)絡(luò)設(shè)備使用,該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備包括至少一以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊及至少一網(wǎng)絡(luò)插座,該測試裝置包括:
N個(gè)網(wǎng)絡(luò)連接器,分別具有多個(gè)網(wǎng)絡(luò)管腳,每一該些網(wǎng)絡(luò)連接器皆具有一第一管腳,一第二管腳,一第三管腳與一第四管腳,N為正整數(shù);
N個(gè)電阻,該些電阻對應(yīng)于該些網(wǎng)絡(luò)連接器,其中第i電阻的一端耦接于第i個(gè)網(wǎng)絡(luò)連接器的該第一管腳與該第二管腳,i為正整數(shù),且0<i<N;以及
N個(gè)發(fā)光二極管,該些發(fā)光二極管對應(yīng)于該些網(wǎng)絡(luò)連接器,其中第i個(gè)發(fā)光二極管的陰極耦接于第i個(gè)電阻的另一端,且第i個(gè)發(fā)光二極管的陽極耦接于第i個(gè)網(wǎng)絡(luò)連接器的該第三管腳與該第四管腳;
其中,當(dāng)該些網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備時(shí),根據(jù)該些發(fā)光二極管產(chǎn)生的光信號,辨識該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的損壞狀態(tài)。
8.如權(quán)利要求7所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中該些網(wǎng)絡(luò)連接器包括RJ45接頭,其中該第一管腳為RTS管腳,該第二管腳為DTR管腳,該第三管腳為TXD管腳,該第四管腳為RXD管腳。
9.如權(quán)利要求7所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中當(dāng)該測試裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時(shí),若該些發(fā)光二極管皆產(chǎn)生間歇性閃爍的光信號,則表示該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊未損壞。
10.如權(quán)利要求7所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊包括一開關(guān)晶體管與一保險(xiǎn)絲,用以控制該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的供電動(dòng)作。
11.如權(quán)利要求10所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中當(dāng)該測試裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時(shí),若第i個(gè)發(fā)光二極管產(chǎn)生持續(xù)發(fā)亮的光信號,則表示對應(yīng)于第i個(gè)網(wǎng)絡(luò)連接器的該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該開關(guān)晶體管損毀,若第i個(gè)發(fā)光二極管未產(chǎn)生光信號,則表示對應(yīng)于第i個(gè)網(wǎng)絡(luò)連接器的該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該保險(xiǎn)絲損毀。
12.如權(quán)利要求10所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中當(dāng)該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備處于初始化狀態(tài)中時(shí),若該發(fā)光二極管產(chǎn)生持續(xù)發(fā)亮的光信號,則表示該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該開關(guān)晶體管損毀。
13.如權(quán)利要求7所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置,其中當(dāng)N等于8時(shí),該些網(wǎng)絡(luò)連接器以兩列的分布方式,上下對稱的設(shè)置于該測試裝置之中。
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