[發(fā)明專利]微全分析系統(tǒng)非接觸電導(dǎo)檢測(cè)方法及裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610122689.0 | 申請(qǐng)日： | 2006-10-13 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1932497A | 公開（公告）日： | 2007-03-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 陳纘光;李全文;李偶連;劉翠;藍(lán)悠 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中山大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01N27/07 | 分類號(hào)： | G01N27/07;G01R27/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 510275廣*** | 國(guó)省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 分析 系統(tǒng) 接觸 電導(dǎo) 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
【說明書】：
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