[發(fā)明專(zhuān)利]采用積分非線性誤差整形的流水線ADC有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610121407.5 | 申請(qǐng)日: | 2006-05-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN1945978A | 公開(kāi)(公告)日: | 2007-04-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 科林·G·萊頓;約翰·J·奧東尼爾;大衛(wèi)·G·奈恩 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 阿納洛格裝置公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H03M1/06 | 分類(lèi)號(hào): | H03M1/06;H03M1/10;H03M1/12 |
| 代理公司: | 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 朱進(jìn)桂 |
| 地址: | 美國(guó)馬*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 采用 積分 非線性 誤差 整形 流水線 adc | ||
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于阿納洛格裝置公司,未經(jīng)阿納洛格裝置公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200610121407.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 非線性晶體溫度控制裝置
- 非線性晶體溫度控制裝置
- 非線性項(xiàng)的選擇裝置及方法、辨識(shí)系統(tǒng)及補(bǔ)償系統(tǒng)
- 一種寬帶射頻功率放大器記憶非線性模型及建模方法
- 非線性子系統(tǒng)基于作為非線性模型后跟線性模型的級(jí)聯(lián)的模型的自適應(yīng)預(yù)失真
- 一種適用于不確定性系統(tǒng)的非線性度量方法
- 基于分部分段多項(xiàng)式近似的數(shù)字預(yù)失真和后失真
- 數(shù)字調(diào)制器非線性校正
- 用于多非線性參數(shù)耦合系統(tǒng)的參數(shù)辨識(shí)方法及其辨識(shí)設(shè)備
- 一種激光非線性晶體溫控裝置
- 誤差校準(zhǔn)
- 利用端面誤差調(diào)整徑向誤差裝置
- 利用端面誤差調(diào)整徑向誤差裝置
- 誤差測(cè)定裝置及誤差測(cè)定方法
- 消除測(cè)量誤差和穩(wěn)態(tài)誤差的誤差檢測(cè)-K值控制法
- 分度誤差估計(jì)裝置、分度誤差校準(zhǔn)裝置和分度誤差估計(jì)方法
- 誤差擴(kuò)散
- 處理用于使用誤差擴(kuò)散技術(shù)打印的數(shù)據(jù)的方法和處理裝置
- DAC誤差補(bǔ)償方法及誤差補(bǔ)償系統(tǒng)
- 主軸系統(tǒng)熱誤差建模方法、誤差預(yù)測(cè)系統(tǒng)、誤差控制系統(tǒng)、誤差控制方法及云霧計(jì)算系統(tǒng)





