[發(fā)明專利]基于激光回饋效應(yīng)的細微顆粒測量方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610118877.6 | 申請日： | 2006-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN1963378A | 公開（公告）日： | 2007-05-16 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 孫國強;鄭繼紅;鄭剛 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海理工大學 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00;G01B11/02;G01B7/00;G01B7/02;G01P3/36;G01P3/50;G01P3/52 |
| 代理公司： | 上海申匯專利代理有限公司 | 代理人： | 吳寶根 |
| 地址： | 200093*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 激光 回饋 效應(yīng) 細微 顆粒 測量方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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