[發明專利]利用外加天然放射性物體測量物位的方法

無效

• 申請號: 200610118265.7
• 申請日: 2006-11-13
• 公開（公告）號: CN101183021A
• 公開（公告）日: 2008-05-21
• 發明（設計）人: 紀玉春
• 申請（專利權）人: 紀玉春
• 主分類號: G01F23/288
• 分類號: G01F23/288;G01F23/284
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種利用外加天然放射性物體測量物位的方法，其特征在于采用以下步驟：

(1)在待測容器外部設定安裝探測器及外加天然放射性物體，并測出自然環境下外加天然放射性物體照射容器內有物料和無物料的γ射線折射能譜；

(2)通過電子處理器標定出自然環境放射性照射物料與外加天然放射性物體放射性穿透容器照射物料所折射回來的各種能譜對比，并得到有無料位時的能譜對應關系；

(3)根據上述標定的射線能譜與物位對應關系，得到容器內物料的實際物位。

2.按照權利要求1所述的利用外加天然放射性物體測量物位的方法，其特征在于步驟(2)包括使該項射線探測設備、外加天然放射性物體、容器保持一種靜止的夾角關系，根據測量精度要求逐漸改變容器內的物位，分別測量在不同的物位狀態下，物料與外加天然放射性物體環境的放射性能譜，根據測量能譜的曲線標定放射性能譜與容器內物位的對應關系。

3.按照權利要求1或2所述的利用外加天然放射性物體測量物位的方法其特征在于所述的外加天然放射性物體是指：大理石、鹽、碘或石膏等天然放射性物質。

4.按照權利要求3所述的利用外加天然放射性物體測量物位的方法，其特征在于外加天然放射性物體發射能量在0.15usv-0.3usv即可。