[發(fā)明專利]測試儀同測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610117249.6 | 申請日： | 2006-10-18 |
| 公開（公告）號： | CN101165502A | 公開（公告）日： | 2008-04-23 |
| 發(fā)明（設計）人： | 武建宏;黃海華 | 申請（專利權）人： | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3177;G01R31/3183 |
| 代理公司： | 上海浦一知識產權代理有限公司 | 代理人： | 丁紀鐵 |
| 地址： | 201206上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試儀 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種測試儀同測方法，其特征在于：第一步：錯誤處理程序，設定多個芯片同測作為一個芯片進行測試；第二步：算法矢量發(fā)生器，將產生的一個信號通過可編程數據選擇器分配到多個芯片的測試通道；第三步：順序矢量發(fā)生器，通過設定程序將一個芯片的測試向量擴展到多個芯片的測試通道；第四步：獲得所有測試通道的測試結果，所述測試通道根據不同通道地址進行分組，根據所述通道分組的結果判斷各個芯片合格與否。
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