[發明專利]異步芯片同測方法有效
| 申請號： | 200610117248.1 | 申請日： | 2006-10-18 |
| 公開（公告）號： | CN101165501A | 公開（公告）日： | 2008-04-23 |
| 發明（設計）人： | 武建宏;黃海華 | 申請（專利權）人： | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海浦一知識產權代理有限公司 | 代理人： | 丁紀鐵 |
| 地址： | 201206上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 異步 芯片 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種異步芯片同測方法，其特征在于：首先，對被測芯片異步信號的第一位指令進行匹配；其次，通過對先匹配到的芯片的時鐘信號控制，使多個異步被測芯片保持同步；之后，再連續比對響應的多位指令，實現多個異步被測芯片同時測試時對多位異步信號的匹配。
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