[發明專利]用于半導體集成電路測試的器件接口板

有效

• 申請號: 200610116563.2
• 申請日: 2006-09-27
• 公開（公告）號: CN101153877A
• 公開（公告）日: 2008-04-02
• 發明（設計）人: 惠力蓀;桑浚之;武建宏
• 申請（專利權）人: 上海華虹NEC電子有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R31/28
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司
• 代理人: 顧繼光

技術領域

本發明涉及一種用于半導體集成電路測試的器件接口板。

背景技術

采用雙列直插式封裝(DIP)的半導體集成電路，其管腳有14腳、16腳、20腳、24腳等等，對于管腳數不同的集成電路通常要用不同的插座(Socket)，制作不同的器件接口板(Device?Interface?Board?DIB)。如果需要測試的集成電路數量較少，針對每一種管腳的集成電路制作一個器件接口板很不經濟，因此需要考慮設計一種可以通用的器件接口板。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種用于半導體集成電路測試的器件接口板，能適應具有不同管腳的半導體集成電路測試要求，降低測試的成本。

為解決上述技術問題，本發明的用于半導體集成電路測試的器件接口板，包括一個具有24引腳的雙列直插式插座，在該插座的左右兩側各設置一跳線結構，每一跳線結構，具有12行跳線，每一行跳線具有左、中、右三根跳線引針；左側的跳線結構，每一行中間的跳線引針與所述插座對應的引腳相連接，左邊的跳線引針與測試臺的GND端相連接，右邊的跳線引針與測試臺的數字通道相連；右側的跳線結構，每一行中間的跳線引針與所述插座對應的引腳相連接，右邊的跳線引針與測試臺的VDD端相連接，左邊的跳線引針與測試臺的數字通道相連。

本發明通過在器件接口板上設置一個跳線的結構，對于管腳不同的被測器件進行合適的跳線，以正確連接它的電源(VDD)和接地(GND)端。

采用本發明可以降低集成電路的測試開發成本。例如一般情況下，對于14腳、16腳、20腳、24腳四種類型的器件(參見圖1)，至少需要4種DIB(參見圖2)。采用本發明后，則只需要一塊DIB就可以滿足多種產品的測試要求。

附圖說明

下面結合附圖與具體實施方式對本發明作近一步詳細的說明：

圖1是現有的四種雙列直插式封裝引腳的器件示意圖；

圖2是現有的四種針對不同引腳的器件接口板示意圖；

圖3是本發明的器件接口板示意圖。

具體實施方式

如圖3所示，本發明的用于半導體集成電路測試的器件接口板，包括一個具有24引腳的雙列直插式插座，在該插座的左右兩側各設置了一跳線結構。

每一跳線結構，具有12行跳線，每一行跳線具有左、中、右三根跳線引針。

左側的跳線結構12行跳線按1～12順序自上而下編號，右側的跳線結構12行跳線按24～13順序自上而下編號。

左側的跳線結構，每一行中間的跳線引針與所述插座對應的引腳相連接，左邊的跳線引針與測試臺的GND端相連接，右邊的跳線引針與測試臺的數字通道相連；右側的跳線結構，每一行中間的跳線引針與所述插座對應的引腳相連接，右邊的跳線引針與測試臺的VDD端相連接，左邊的跳線引針與測試臺的數字通道相連。

當需要測試具有14引腳的54LS00器件時，將左側跳線結構編號第7行位置的左中跳線引針連接在一起，右側跳線結構編號為第24行的右中跳線連接在一起，則對應管腳與測試系統GND和VDD相連接。當需要測試具有16引腳的54LS163器件時，將左側跳線結構編號第8行位置的左中跳線引針連接在一起，右側跳線結構編號為第24行的右中跳線連接在一起，則使得對應管腳與測試系統GND和VDD相連接。同理，如果是VDD和GND端在中間的DUT，同樣也可靈活解決，而不需要專門設計一塊DIB板。本發明針對DIP封裝形式的集成電路，特別適用于品種多，數量少的測試要求。