[發明專利]一種G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法

無效

• 申請號: 200610113758.1
• 申請日: 2006-10-13
• 公開（公告）號: CN101162942A
• 公開（公告）日: 2008-04-16
• 發明（設計）人: 沈百林;李紅軍;張乃罡;張紅宇
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04B10/08
• 分類號: H04B10/08;H04B10/18;H04J14/02
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司
• 代理人: 梁揮;徐金國

1.一種G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，適用于G.653光纖DWDM系統，其特征在于，包括：

步驟一，選擇待測試的典型通道；

步驟二，通過測試得到所述典型通道的附加色散與通道代價之間的關系曲線；及

步驟三，通過分析所述關系曲線得到所述系統的傳輸性能測試結果。

2.根據權利要求1所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特征在于，所述典型通道包括：零色散波長附近的通道、邊緣通道、發送接收技術不同于其他通道的通道。

3.根據權利要求1或2所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特征在于，所述步驟二中，還包括一通過在所述系統中設置一附加可調色散補償器調節殘余色散的步驟。

4.根據權利要求3所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特征在于，所述步驟二中，得到所述典型通道的附加色散與通道代價之間的關系曲線的步驟具體為：

步驟21，設置所述典型通道的附加色散與通道代價的關系的測試配置；

步驟22，根據所述測試配置測試所述典型通道在不同附加色散時的通道代價，并根據所述附加色散、所述通道代價繪制附加色散與通道代價之間的關系曲線。

5.根據權利要求1、2或4所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特征在于，所述步驟三中，還包括對測試所得的數據進行擬合，求取最優附加色散量的步驟。

6.根據權利要求5所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特征在于，所述步驟三中，還包括根據所述系統的通道代價設計規范求取所述各典型通道的色散容忍范圍的步驟。

7.根據權利要求6所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特征在于，所述步驟三中，還包括根據所述所有典型通道的測試數據，判斷所述各典型通道的傳輸性能的步驟，若所述系統中入纖光功率不合適，則所述典型通道的色散容忍范圍變窄；若所述系統的色散補償不合適，則當所述附加色散為零時，對應的通道代價偏大或該附加色散偏離最優附加色散量較遠。

8.根據權利要求1、2或4所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特征在于，所述步驟三中，當所述關系曲線較窄時，則表明所述系統的單通道入纖光功率不合適；當附加可調色散補償量為零時，若所述典型通道的通道代價較大，則表明所述系統的色散補償效果差。

9.根據權利要求3所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特征在于，所述步驟三中，還包括對測試所得的數據進行擬合，求取最優附加色散量的步驟。

10.根據權利要求9所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特征在于，所述步驟三中，還包括根據所述系統的通道代價設計規范求取所述各典型通道的色散容忍范圍的步驟。