[發明專利]真空紫外光電離氣溶膠質譜儀

無效

• 申請號: 200610113291.0
• 申請日: 2006-09-21
• 公開（公告）號: CN101149326A
• 公開（公告）日: 2008-03-26
• 發明（設計）人: 束繼年;解淑霞;李曜;高紹凱
• 申請（專利權）人: 中國科學院生態環境研究中心
• 主分類號: G01N15/00
• 分類號: G01N15/00;G01N27/62
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.真空紫外光電離氣溶膠質譜儀由有進樣室、粒徑測量室、電離室、和反射式質譜裝置組成。其特征在于進樣室，粒徑測量室，電離室，和反射式質譜裝置依次相連接，進樣室與粒徑測量室之間和粒徑測量室與電離室之間有小孔相連接，電離室與反射式質譜裝置相互垂直。在進樣室中，安裝有氣溶膠氣動聚焦透鏡組，在粒徑測量室中，安裝有轉盤式粒徑測量器，電離室中裝有可控溫氣化器和真空紫外光源。進樣室，粒徑測量室，電離室和反射式質譜裝置上均連接有分子泵，分子泵連接有前級機械泵。

2.根據權利要求1所述的真空紫外光電離氣溶膠質譜儀，其特征是：大氣氣溶膠不經處理，直接通過采樣孔進入到進樣室中。

3.根據權利要求1所述的真空紫外光電離氣溶膠質譜儀，其特征是：進樣室中通過氣動聚焦透鏡組對氣溶膠顆粒進行聚焦。

4.根據權利要求1所述的真空紫外光電離氣溶膠質譜儀，其特征是：粒徑測量室中，安裝有轉盤式粒徑測量器。

5.根據權利要求1所述的真空紫外光電離氣溶膠質譜儀，其特征是：電離室中的電離源，所采用的是真空紫外光電離源。

6.根據權利要求1所述的真空紫外光電離氣溶膠質譜儀，其特征是：離子由反射式質譜裝置探測。

7.根據權利要求3所述的真空紫外光電離氣溶膠質譜儀，其特征是：氣動聚焦透鏡組的鏡片的孔徑是可以改變的。