[發明專利]檢測治具及其檢測電容的方法

有效

• 申請號: 200610111020.1
• 申請日: 2006-08-09
• 公開（公告）號: CN101122624A
• 公開（公告）日: 2008-02-13
• 發明（設計）人: 呂佩諺
• 申請（專利權）人: 日月光半導體制造股份有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R27/26;G01R31/00;G01R31/02
• 代理公司: 上海翼勝專利商標事務所
• 代理人: 翟羽

1.一種檢測治具，用來檢測出并聯電容群中的漏電流電容，其特征在于：該檢測治具包括有一參考電壓產生器、一阻抗轉換器、一比較器及一顯示單元，其中參考電壓產生器具有一第一分壓電路，第一分壓電路具有一可變電阻VR1，用來調整參考電壓產生器輸出的一第一電壓；阻抗轉換器是用來將并聯電容群的阻抗轉換成一第二電壓，其中阻抗轉換器具有一第二分壓電路，且第一分壓電路與第二分壓電路構成一電橋，第一電壓與第二電壓是以電橋分壓而成；比較器是分別耦接于參考電壓產生器與阻抗轉換器的輸出，用來比較第一電壓與第二電壓；以及顯示單元是耦接于比較器的輸出，通過加熱并聯電容群中的其中一電容以改變第二電壓，而比較器對應于第二電壓的改變會輸出一電壓差，并利用顯示單元來顯示電容是否有漏電流。

2.如權利要求1所述的檢測治具，其特征在于：顯示單元具有一運算放大器，其耦接于比較器的輸出，該運算放大器能夠響應于電壓差而產生一負電壓輸出。

3.如權利要求2所述的檢測治具，其特征在于：顯示單元還具有一發光二極管，發光二極管的陽極接地，而陰極耦接至負電壓輸出。

4.如權利要求2所述的檢測治具，其特征在于：該檢測治具還包括一校正電壓產生器，其耦接于運算放大器的輸入端，用來產生一校正電壓，校正電壓產生器具有一可變電阻VR2，用來調整校正電壓，該檢測治具還包括一開關，用來接通可變電阻VR2至運算放大器的輸入端。

5.一種檢測電容的方法，其步驟包括有：(a)以一電橋分壓產生一第一電壓，該電橋是以一可變電阻VR1來調整第一電壓；(b)將并聯電容群的阻抗轉換成一第二電壓，并輸出第二電壓至一比較器，其中該第二電壓是以該電橋分壓而成；(c)比較器接收第一電壓與第二電壓，并輸出至一顯示單元；以及，(d)加熱并聯電容群中的其中一個電容以改變第二電壓，而比較器對應于第二電壓的改變輸出一電壓差，以使顯示單元對應顯示該被加熱的電容是否有漏電流。

6.如權利要求5所述的檢測電容的方法，其特征在于：顯示單元是以一運算放大器接收電壓差，并對應產生一負電壓輸出。

7.如權利要求6所述的檢測電容的方法，其特征在于：顯示單元是以一發光二極管耦接負電壓輸出，以顯示檢測結果。

8.如權利要求6所述的檢測電容的方法，其特征在于：運算放大器是以一可變電阻VR2來校正輸入端的電壓，可變電阻VR2是以一開關接通至運算放大器的輸入端。