[發明專利]投影機亮度測量裝置無效
| 申請號: | 200610110100.5 | 申請日: | 2006-08-08 |
| 公開(公告)號: | CN101122543A | 公開(公告)日: | 2008-02-13 |
| 發明(設計)人: | 林政儒 | 申請(專利權)人: | 明基電通股份有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 魏曉剛;李曉舒 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 投影機 亮度 測量 裝置 | ||
技術領域
本發明是有關于一種投影機亮度測量裝置,且特別是有關于一種可以自動測量數個投影機的亮度的亮度測量裝置。
背景技術
影像顯示裝置的發展迅速,其中投影機可提供一大尺寸的影像。且投影機具有攜帶方便、壽命長、高象素及高色彩飽和度等優點,越來越多的企業采用投影機進行簡報及教育訓練,許多的家庭亦采用投影機享受視聽娛樂的效果。
投影機是以一燈泡投射出一投影光線,投影光線經過一影像屏后投射于一成像屏幕上。投影光線的亮度大大地影響投影機成像的質量,因此在投影機制造過程中,亮度測試為質量管理的重要項目之一。質量優良的投影機必須在使用時具有一定范圍內的亮度,且隨著使用時間增加,亮度衰減仍須維持在一定范圍內。至于作業人員如何測量投影機的亮度衰減情況的過程在此簡單說明如下。
在傳統的測量投影機的亮度的過程中,作業人員必須將多臺投影機逐一拿至符合國際標準的大間暗房中,以測量投影機所射出的投影光線的9點亮度。并且,作業人員一次只能測量一臺投影機。每隔一段時間,作業人員即重復所有投影機拿至暗房再測量一次的動作。直到每臺投影機運作一預設時間(如2000小時)后,作業人員可以匯整每臺投影機所有的亮度值而知道每臺投影機的亮度衰減情況。
然而,當作業人員輪流測量數臺投影機時,其數臺投影機總測量時間為每一投影機個別測量時間的總和,相當耗費測量時間。此外,作業人員也無法在晚上睡覺時間做固定間隔時間的測量,除非作業人員輪班測量,但這樣將會相當浪費人工。另外,作業人員必須在暗房內測量投影機的亮度,因此暗房將會占據空間,相當不符合經濟效益。
發明內容
有鑒于此,本發明的目的就是在提供一種投影機亮度測量裝置。其利用光通道器具與承載器具的搭配設計,并提供一可自動移動的測光器。使用者可在一小空間中以自動控制的方式同時測量數臺投影機。不僅節省測量亮度所需要的空間,且大幅減少測量數臺投影機所需要的總測量時間,更省去操作儀器所需的人力成本。
根據本發明的目的,提出一種投影機亮度測量裝置,包括一光信道器具、一承載器具及一測光器。光通道器具是以數個遮光材相互隔開以形成數個光通道。各光通道具有一第一開口及一第二開口。承載器具設置在光通道器具的一第一側外,用以承載數個投影機。各投影機對應于各第一開口。各投影機具有一投影光線,各投影光線由對應的第一開口進入對應的光通道,并由對應的第二開口射出至外界。測光器以可移動的方式設置在光信道器具的一第二側,用以在各第二開口處測量各投影光線的亮度。
為讓本發明的上述目的、特征、和優點能更明顯易懂,下文特舉一優選實施例,并配合附圖,作詳細說明如下:
附圖說明
圖1所示為依照本發明的優選實施例的投影機亮度測量裝置的側視圖。
圖2示出圖1中的光通道器具、測光器及移動機構的左側視圖。
圖3示出依照本發明的優選實施例的測光器及數據處理單元的方塊圖。
圖4所示為依照本發明的優選實施例的投影機亮度測量方法的流程圖。
主要組件符號說明
100:??投影機亮度測量裝置
10:???承載器具
20:???光通道器具
20a:??第一側
20b:??第二側
21:???遮光材
22:???光通道
22a:??第一開口
22b:??第二開口
23:??分隔支架
30:??移動機構
30a:?垂直軸
30b:?水平軸
40:??測光器
50:??數據處理單元
60:??投影機
70:??屏幕
L:???投影光線
L60:?投影光線的中心軸
具體實施方式
請同時參照圖1及圖2,圖1所示為依照本發明的優選實施例的投影機亮度測量裝置的側視圖。圖2示出圖1的光通道器具、測光器及移動機構的左側視圖。投影機亮度測量裝置100包括一光信道器具20、一承載器具10及一測光器40。光通道器具20是以數個遮光材21相互隔開以形成數個光通道22。各光通道22具有一第一開口22a及一第二開口22b。承載器具10設置在光通道器具10的一第一側20a外,用以承載數個投影機60。各投影機60對應于各第一開口22a。各投影機60具有一投影光線L,各投影光線L由對應的第一開口22a進入對應的光通道22,并由對應的第二開口22b射出至外界。測光器40以可移動的方式設置在光信道器具20的一第二側20b,用以在各第二開口22b處測量各投影光線L的亮度。
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