[發明專利]邏輯線路的點距分析方法無效
| 申請號: | 200610109843.0 | 申請日: | 2006-08-18 |
| 公開(公告)號: | CN101127054A | 公開(公告)日: | 2008-02-20 |
| 發明(設計)人: | 謝祥毅 | 申請(專利權)人: | 英業達股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 | 代理人: | 梁揮;徐金國 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 邏輯 線路 分析 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種邏輯線路的點距分析方法,特別是涉及一種利用測試點電路區域定義手段減少分析量的點距分析方法。
背景技術
現今的電路設計中,為有效管理線路設計、節省時間、金錢與人力成本,電路布局都經過設計人員配合專用的邏輯電路軟件進行設計,同時加載不同電路板所需的設計限定信息以自動調整形成較準確的線路設定值。但隨著科技進步,電子產品所需要的功能逐步增加,因此設計PCB(印刷電路板)的復雜性也隨之增加,相對的量產之前的測試就變得十分重要。
一般電路板在進行測試之前,先決定預定測試的功能,并選定其功能線路的相關連接端點為測試點,此流程工作若以現在的工作者的作法,大多是配合邏輯電路軟件進行,其乃先加載并解析一邏輯電路設定文件,以取得所包含的所有測試點的編碼與相對應的坐標信息,并以一點距分析規則逐一對比各測試點之間的距離,并將不符合點距分析規則的測試點截取出來,最后把分析結果匯整形成一分析結果文件,匯入邏輯電路軟件來協助研發人員排除不合格的測試點。此外,也有一些工作者是以目視檢查方式進行測試點的錯誤排除,所謂目視檢查方式就是利用邏輯電路軟件先繪制出一測試點配置圖,再以人的肉眼逐一檢視各測試點的編排狀態,并以手動方式選取不合格的測試點。
但是,公知技術有著無法避免的缺陷,如下列所述:
(1)錯誤率高。所謂的目視檢查檢視測試點即是指以肉眼檢視各個測試點之間的距離,若是功能較少,復雜性較低的電路板,其功能電路的測試點也許只有數十個,若以肉眼檢視其測試點是否設計適當,檢示結果的錯誤率也不會太高,但是功能性較為繁多的電路板,如:計算機主機板,其功能電路所需標示的記錄點少說也數以千計,不容易檢視出測試點的錯誤所在,如此就難以產生正確的線路測試輸出;其次,就現今邏輯電路軟件而言,當匯入分析結果文件時,其所能取得的分析信息多為文字列表,即是列出錯誤的測試點編碼信息與相對應的坐標設定,再由逐一對比以尋求測試點的設置位置,若數量眾多,則信息對比容易錯誤而產生不必要的人為疏失。
(2)時間成本過高,公知技術中,若以人工操作,為逐步檢視每一測試點的配置距離,任一種電路板,如計算機主機板,其所標示的記錄點即千點以上,若逐一檢視,十分耗費時間成本;其次,若是當匯入分析結果文件到邏輯電路軟件時,也多以文字列表呈現,研發人員需逐步對比不合格的測試點于電路板上的定點配置,但測試點數量較多時,配置錯誤的測試點相對應較為增加,如此研發人員于對比工作就會花費大量的時間;再有,即使是配合邏輯電路軟件分析測試點,但也是將各測試點逐一與其它測試點相對比,可能重復檢測到測試點之間的距離,或是將明顯在不同位置的測試點進行不必要的點距對比,進而花費不必要的時間成本。
發明內容
本發明的目的在于提供一種邏輯線路的點距分析方法,改進公知技術的缺點,增進使用者的便利性,并簡化邏輯電路測試流程以提高生產效率。
為了實現上述目的,本發明提供了一種邏輯線路的點距分析方法,應用一邏輯電路設定文件直接產生可匯入邏輯電路軟件的測試點距離分析結果,其邏輯電路軟件可為現在工作人員常使用的邏輯電路設計軟件Allegro,通過邏輯電路軟件先輸出一邏輯電路設定文件,其文件具有電路板進行測試時,所需的各測試點的相關信息,包含各測試點編碼信息以及與測試點編碼信息相對應的測試點坐標設定,接著利用一點距分析程序以逐步對比字符串的方式,遵循一編碼規則以取得包含于邏輯電路設定文件中的數個測試點編碼信息,并以同樣方式取得所有測試點編碼信息的測試點坐標設定,然后加載一電路區域劃分規則以將電路板劃分數個電路區域,依這些測試點坐標設定以指定各測試點編碼信息所對應的電路區域,再加載一點距分析規則,分析在同電路區域中,各成對的測試點坐標設定之間的預測距離值為多少,最后再將不符合點距分析規則的測試點坐標設定標記出來,并將其測試點編碼信息、成對的測試點坐標設定與對應電路區域記錄生成一分析結果文件,以匯入邏輯電路軟件。
當邏輯電路軟件匯入分析結果文件時,會以圖像來顯示其分析結果。邏輯電路軟件會先加載電路板的線路設定與測試點配置,接著加載分析結果文件,顯示電路區域的劃分與各測試點所對應的電路區域,然后依照分析結果將不符合點距分析規則的測試點與所屬的電路區域以顯眼的顏色或是特殊符號加以標記,借此協助研發人員快速了解線路設計的錯誤所在,以便進行修正。
本發明為一種邏輯線路的點距分析方法,與公知技術相比,具備下述優點及顯著增進功效:
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