[發明專利]X射線－CT檢測設備以及用于檢測物體的CT方法無效
| 申請號： | 200610109249.1 | 申請日： | 2006-08-03 |
| 公開（公告）號： | CN1912603A | 公開（公告）日： | 2007-02-14 |
| 發明（設計）人： | 馬丁·蒙克;奧利弗·羅基塔;費薩爾·拉克爾 | 申請（專利權）人： | 依科視朗國際斷層掃描開發有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 | 代理人： | 楊生平;楊紅梅 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 德國;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 射線 ct 檢測 設備 以及 用于 物體 方法 | ||
【說明書】：
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