[發(fā)明專利]具有內(nèi)置熱沉的半導(dǎo)體器件無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610109096.0 | 申請日: | 2006-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN101118895A | 公開(公告)日: | 2008-02-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 高偉 | 申請(專利權(quán))人: | 飛思卡爾半導(dǎo)體公司 |
| 主分類號: | H01L23/495 | 分類號: | H01L23/495;H01L23/34 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務(wù)所 | 代理人: | 王以平 |
| 地址: | 美國得*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 內(nèi)置 半導(dǎo)體器件 | ||
1.一種用于半導(dǎo)體器件的單厚度引線框架,該引線框架包括:
位于中央的芯片焊盤,具有第一厚度;
多個包圍上述芯片焊盤的引線接頭,所述引線接頭具有和所述第一厚度相等的厚度;
散熱器,具有第二厚度;
其中,所述散熱器的第一表面粘接在所述芯片焊盤的第一表面上;
所述半導(dǎo)體集成電路粘接在所述散熱器的第二表面上。
2.權(quán)利要求1中的單厚度引線框架,其中,所述第二厚度大于所述第一厚度。
3.權(quán)利要求1中的單厚度引線框架,其中,所述第二厚度大約為8密耳。
4.權(quán)利要求1中的單厚度引線框架,其中,所述散熱器用焊料粘接在所述芯片焊盤上。
5.權(quán)利要求1中的單厚度引線框架,其中,所述芯片焊盤、所述引線接頭、所述散熱器由銅構(gòu)成。
6.權(quán)利要求1中的單厚度引線框架,其中,所述散熱器鍍覆了NiPd。
7.權(quán)利要求1中的單厚度引線框架,其中,所述散熱器和所述芯片焊盤具有基本相同的尺寸。
8.一種半導(dǎo)體器件,包括:
芯片焊盤,具有第一厚度;
多個包圍所述芯片焊盤的引線接頭,其中,所述引線接頭具有與所述第一厚度相等的厚度;
散熱器,具有第二厚度,粘接在所述芯片焊盤的第一表面上;
集成電路,粘接在所述散熱器的第二表面上;
多個引線,將所述多個引線接頭的每個分別與所述集成電路上相應(yīng)的鍵合焊盤電連接;和
包圍所述集成電路、所述多個引線,以及包圍所述引線接頭的上表面的模塑成型化合物,其中,所述芯片焊盤的第二表面被暴露在外。
9.權(quán)利要求8中的半導(dǎo)體器件,其中,所述引線接頭的下表面被暴露在外。
10.權(quán)利要求8中的半導(dǎo)體器件,其中,所述芯片焊盤、所述引線接頭和所述熱沉由銅構(gòu)成。
11.權(quán)利要求10中的半導(dǎo)體器件,其中,所述第二厚度與所述第一厚度相等。
12.權(quán)利要求11中的半導(dǎo)體器件,其中,所述散熱器鍍覆了NiPd。
13.權(quán)利要求8中的半導(dǎo)體器件,其中,所述散熱器用焊料粘接在所述芯片焊盤上,所述集成電路通過焊料粘接在所述散熱器上。
14.一種半導(dǎo)體器件,包括:
第一芯片焊盤,具有第一厚度;
第二芯片焊盤,具有所述第一厚度;
多個包圍所述第一和第二芯片焊盤的引線接頭,其中,所述引線接頭具有與所述第一厚度相等的厚度;
散熱器,具有第二厚度,被粘接在所述第一芯片焊盤的第一表面上;
第一集成電路,粘接在所述散熱器的第二表面上;
第二集成電路,粘接在所述第二芯片焊盤的第一表面上;
多根引線,將所述多個引線接頭的每個分別與相應(yīng)的所述第一和第二集成電路的鍵合焊盤電連接;
包圍所述第一和第二集成電路、所述多根引線,以及所述引線接頭上表面的模塑成型化合物,其中,所述第一和第二芯片焊盤的第二表面被暴露出來。
15.權(quán)利要求14中的半導(dǎo)體器件,其中,所述第一集成電路包括功率晶體管。
16.權(quán)利要求15中的半導(dǎo)體器件,其中,所述引線接頭的下表面被暴露出來。
17.權(quán)利要求15中的半導(dǎo)體器件,其中,所述第一和第二芯片焊盤,所述引線接頭和所述熱沉由銅構(gòu)成。
18.權(quán)利要求17中的半導(dǎo)體器件,其中,所述第二厚度與所述第一厚度相等。
19.權(quán)利要求17中的半導(dǎo)體器件,其中,所述散熱器鍍覆了NiPd。
20.權(quán)利要求17中的半導(dǎo)體器件,其中,所述第一集成電路通過焊料粘接在所述散熱器上;所述散熱器用焊料粘接在所述第一芯片焊盤上。
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