[發明專利]用來補償信道不平衡的方法與裝置無效
| 申請號: | 200610108005.1 | 申請日: | 2006-07-21 |
| 公開(公告)號: | CN101110806A | 公開(公告)日: | 2008-01-23 |
| 發明(設計)人: | 卓俊銘;李亮輝 | 申請(專利權)人: | 瑞昱半導體股份有限公司 |
| 主分類號: | H04L27/26 | 分類號: | H04L27/26;H04L25/02;H04L25/03;H04L1/06;H04B7/005 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 黃小臨;王志森 |
| 地址: | 中國臺灣新*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用來 補償 信道 不平衡 方法 裝置 | ||
1.一種用于接收器的IQ不平衡的補償方法,該方法包含:
計算該接收器的I路徑上第一信號的平方值與該接收器的Q路徑上第二信號的平方值之間的差值,且依據該差值產生增益補償參數;
計算該第一信號與該第二信號的乘積,且依據該乘積產生第一相位補償參數以及產生對應該第一相位補償參數的第二相位補償參數;以及
依據該增益補償參數、該第一相位補償參數、與該第二相位補償參數,于該I路徑與該Q路徑上進行補償。
2.根據權利要求1的方法,其中產生該增益補償參數的步驟還包含:
對該差值進行濾波,以產生該增益補償參數。
3.根據權利要求1的方法,其中產生該第一相位補償參數的步驟還包含:
將該第一信號的平方值與該第二信號的平方值相加以產生和數;
對該和數進行平均運算,以產生第一平均值;
對該乘積進行平均運算,以產生第二平均值;以及
依據該第一平均值除以該第二平均值所得的商數以產生該第一相位補償參數。
4.根據權利要求1的方法,其中產生該第一相位補償參數的步驟還包含:
檢測該乘積的正負號,以產生正負號檢測結果;以及
依據該正負號檢測結果以產生該第一相位補償參數。
5.根據權利要求1的方法,其中產生該第二相位補償參數的步驟還包含:
依據該第一相位補償參數以產生該第二相位補償參數。
6.根據權利要求1的方法,其中于該I路徑與該Q路徑上進行補償的步驟還包含:
依據該增益補償參數對該I路徑與該Q路徑的至少其一來進行增益補償;以及
依據該第一相位補償參數與該第二相位補償參數,于該I路徑與該Q路徑上進行相位補償。
7.根據權利要求1的方法,其中于該I路徑與該Q路徑上進行補償的步驟還包含:
依據該增益補償參數與該第一相位補償參數的乘積、該增益補償參數與該第二相位補償參數的乘積、該第一相位補償參數、與該第二相位補償參數,于該I路徑與該Q路徑上進行增益補償與相位補償。
8.一種IQ不平衡補償裝置,位于接收器中,該裝置包含:
補償參數產生模塊,該補償參數產生模塊計算該接收器的I路徑上第一信號的平方值與該接收器的Q路徑上第二信號的平方值之間的差值,且依據該差值產生增益補償參數,以及計算該第一信號與該第二信號的乘積,且依據該乘積產生第一相位補償參數以及產生對應該第一相位補償參數的第二相位補償參數;以及
補償模塊,耦接至該補償參數產生模塊,用來依據該增益補償參數、該第一相位補償參數、與該第二相位補償參數,于該I路徑與該Q路徑上進行補償。
9.根據權利要求8的裝置,其中該補償參數產生模塊包含:
平方運算單元,用來計算該第一信號的平方值與該第二信號的平方值;以及
第一算數單元,耦接至該平方運算單元,用來計算該第一信號的平方值與該第二信號的平方值之間的該差值;
其中,該增益補償參數是與該差值相對應。
10.根據權利要求8的裝置,其中該補償參數產生模塊包含:
乘法器,用來計算該第一信號與該第二信號的該乘積;以及
正負號檢測單元,耦接至該乘法器,用來檢測該乘積的正負號,以產生正負號檢測結果;
其中,該第一相位補償參數是與該正負號檢測結果相對應。
11.根據權利要求8的裝置,其中該補償模塊包含:
增益補償模塊,用來依據該增益補償參數于該I路徑或該Q路徑或兩者路徑上進行增益補償;以及
相位補償模塊,用來依據該第一相位補償參數與該第二相位補償參數,于該I路徑與該Q路徑上進行相位補償。
12.根據權利要求8的裝置,其中該補償模塊包含:
多個乘法器與多個算數單元,用來依據該增益補償參數與該第一相位補償參數的乘積、該增益補償參數與該第二相位補償參數的乘積、該第一相位補償參數、與該第二相位補償參數,于該I路徑與該Q路徑上進行增益補償與相位補償。
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