技術領域
本發明涉及一種物體光譜測量方法，尤其是涉及一種非熒光物體光譜測量的非分光全靜態方法。
背景技術
在現代工業、農業、貿易、醫學、科學研究和日常生活等許多領域中，存在大量物體光譜測量問題。例如在可見光波段，測定物體的反射、透射光譜可精確計算物體色；在紅外波長范圍，利用吸收光譜法可定性或定量分析物體的有機物或無機物成分。
光譜測量需要采用波長分離技術進行分光。現有的分光技術都需要利用某種光學元部件，如棱鏡、光柵、干涉儀、濾光片、光纖等。
采用光學元部件進行分光存在以下問題：
1、光學元部件制造工藝及光路結構復雜，設備加工、裝配精度要求高，造成測量設備體積龐大，價格昂貴。
2、對使用環境要求較高，有的儀器甚至要求嚴格的恒溫恒濕，不適于在環境條件較差的場合使用。
發明內容
本發明的目的就在于解決現有光譜測量方法存在的光路結構復雜、體積龐大，對環境要求高等問題，從而提供一種結構簡單、體積小、對環境要求不高的非熒光物體光譜測量的非分光全靜態方法。
本發明的目的可通過以下措施來實現：
本發明測量方法如下：
對于反射光譜的測量：
若需要測定某一波段N個波長范圍(λn，n＝1，2，3，...，N)的光譜反射因數，具體方法為：
第一步驟：選擇反射樣品的照明和觀測條件，測定照明體在控制變量im控制下在這一波段的光譜功率分布P(λ，im)，P(λ，im)為照明體在控制變量為im時的光譜功率分布矩陣，
