[發明專利]由微處理器產生模擬信號進行故障電弧自檢的方法

無效

• 申請號: 200610106745.1
• 申請日: 2006-07-27
• 公開（公告）號: CN101114768A
• 公開（公告）日: 2008-01-30
• 發明（設計）人: 費青
• 申請（專利權）人: 劉浩銘
• 主分類號: H02H3/00
• 分類號: H02H3/00;H02H3/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種由AFCI(Arc-Fault?Circuit-Interrupter)的微處理器U2產生模擬信號來進行故障電弧自檢的方法。當需要對AFCI的故障電弧檢測功能進行自檢時，由微處理器U2產生一組故障電弧的模擬脈沖信號，由反饋電路R26和D11送到信號采樣的輸入端，經運算放大器U1放大整形后，將該模擬脈沖信號送回微處理器U2的輸入端，由程序來進行判斷和處理，并驅動脫扣電路動作，完成AFCI故障電弧的自檢過程。

2.如權利要求1所述，當需要對系統進行自檢時，按下測試按鈕AN，微處理器U2的P0.5口電平由高變低。

3.如權利要求2所述，微處理器U2的程序在運行中不斷掃描P0.5口的電平，當P0.5口電平為低時，微處理器U2運行程序在其輸出口P3.1產生一組故障電弧的模擬脈沖信號。

4.如權利要求3所述的故障電弧的模擬脈沖信號由反饋電路R26和D11送到AFCI信號采樣的輸入端，經運算放大器U1進行放大處理后，其輸出信號由三極管Q1進行電平轉換并反相后送入微處理器U2的計數器輸入端P1.2口。

5.微處理器U2的故障電弧診斷程序對權利要求4所述的反饋信號進行判別、計數和計時，確認為故障電弧后，由微處理器U2的P3.0口輸出一個控制信號來觸發可控硅KC，使可控硅KC導通，脫扣線圈TK得電，執行脫扣動作斷開電源，完成系統故障電弧的自檢過程。

6.如權利要求1所述，由AFCI的微處理器U2產生模擬信號來進行故障電弧自檢的方法，可用來檢測AFCI是否能正常工作。該自檢過程，檢測了AFCI的故障電弧信號處理通道、微處理器U2的故障電弧診斷程序、可控硅執行電路及系統的機械脫扣部分。