[發(fā)明專利]外部組件互連延伸插槽的測(cè)試系統(tǒng)及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200610099159.9
• 申請(qǐng)日: 2006-07-31
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101118268A
• 公開(kāi)（公告）日: 2008-02-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 段秋月;劉濤;陳玄同;劉文涵
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/02
• 分類號(hào): G01R31/02;G01R31/04;G01R31/00
• 代理公司: 北京律誠(chéng)同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 梁揮;徐金國(guó)

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種插槽測(cè)試方法，尤其涉及一種外部組件互連延伸(PCIX)插槽的測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

目前一些新型主板的外部組件互連延伸(PCIX)插槽能夠同時(shí)擁有外部組件互連(PCI)信號(hào)和高速外部組件互連(PCI-E)信號(hào)，即主板支持普通的外部組件互連設(shè)備也支持高速外部組件互連設(shè)備。在測(cè)試主板的外部組件互連延伸(PCIX)插槽上的外部組件互連(PCI)信號(hào)和高速外部組件互連(PCI-E)信號(hào)時(shí)，需在外部組件互連延伸(PCIX)插槽上提供相應(yīng)的接口轉(zhuǎn)向卡，以連接外部組件互連卡或者高速外部組件互連卡，進(jìn)而引出外部組件互連延伸(PCIX)插槽的上述兩種信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。

但是，在上述外部組件互連延伸插槽的信號(hào)測(cè)試中，現(xiàn)有技術(shù)不能在一次測(cè)試中同時(shí)測(cè)試到外部組件互連延伸插槽的全部插針。若想全面測(cè)試外部組件互連延伸插槽的外部組件互連信號(hào)和高速外部組件互連信號(hào)，則必須先插入外部組件互連(PCI)接口轉(zhuǎn)向卡及外部組件互連測(cè)試卡至外部組件互連延伸(PCIX)插槽中以進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完畢后關(guān)機(jī)另?yè)Q一套高速外部組件互連(PCIE)接口轉(zhuǎn)向卡及高速外部組件互連測(cè)試卡，再重新開(kāi)機(jī)測(cè)試，或者反之。因此，上述測(cè)試方法不僅花費(fèi)時(shí)間和力氣，而且還有可能忽略對(duì)某類信號(hào)的測(cè)試。

此外，在測(cè)試外部組件互連(PCI)和高速外部組件互連(PCI-E)的直接內(nèi)存存取(Direct?Memory?Access，DMA)的傳輸能力時(shí)，以往需要在操作系統(tǒng)上開(kāi)辟出兩塊較大的連續(xù)實(shí)體內(nèi)部存儲(chǔ)器以作為測(cè)試中介。由于外部組件互連(PCI)和高速外部組件互連(PCI-E)本身規(guī)范的不同以及操作系統(tǒng)的牽制，因此連續(xù)實(shí)體內(nèi)部存儲(chǔ)器的開(kāi)辟較為困難。此外，這種測(cè)試方法還需要消耗大量的實(shí)體內(nèi)部存儲(chǔ)器資源，且與其它需要占用大量?jī)?nèi)部存儲(chǔ)器資源的測(cè)試項(xiàng)之間存在沖突。

為此，目前存在一種通過(guò)外部組件互連測(cè)試卡內(nèi)建的靜態(tài)內(nèi)存進(jìn)行測(cè)試的方法，較上述現(xiàn)有測(cè)試方法，此測(cè)試方法可以少開(kāi)辟一連續(xù)實(shí)體內(nèi)部存儲(chǔ)器。但是，此測(cè)試方法受到操作系統(tǒng)的限制，無(wú)法分配出與測(cè)試卡內(nèi)建內(nèi)部存儲(chǔ)器相同大小的連續(xù)實(shí)體內(nèi)部存儲(chǔ)器，因此多采用多次搬移的方法進(jìn)行實(shí)體內(nèi)部存儲(chǔ)器分配。但是目前測(cè)試程序只能分配64k的連續(xù)實(shí)體內(nèi)部存儲(chǔ)器，每次只搬運(yùn)64k則無(wú)法形成足夠的測(cè)試壓力，沒(méi)有實(shí)現(xiàn)內(nèi)部存儲(chǔ)器所需的一次性直接內(nèi)存存取，而且浪費(fèi)時(shí)間造成測(cè)試效率的降低。由于各測(cè)試項(xiàng)對(duì)內(nèi)部存儲(chǔ)器的競(jìng)爭(zhēng)，長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試會(huì)導(dǎo)致無(wú)法分配符合要求的連續(xù)實(shí)體內(nèi)部存儲(chǔ)器，進(jìn)而無(wú)法進(jìn)行正常測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于在于提供一種外部組件互連延伸插槽的測(cè)試系統(tǒng)及方法，能夠一次測(cè)試外部組件互連延伸(PCIX)插槽的全部外部組件互連(PCI)信號(hào)與高速外部組件互連(PCIE)信號(hào)，節(jié)省測(cè)試時(shí)間且增加測(cè)試程序的通用性。

本發(fā)明的另一目的在于提供一種外部組件互連延伸插槽的測(cè)試系統(tǒng)及方法，能夠避免開(kāi)辟連續(xù)實(shí)體內(nèi)部存儲(chǔ)器作為測(cè)試中介的瓶頸問(wèn)題，而且可以實(shí)現(xiàn)真正意義的直接內(nèi)存存取(DMA)壓力測(cè)試。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所提供的一種外部組件互連延伸插槽的測(cè)試系統(tǒng)，用以連接于主板上的外部組件互連延伸(PCIX)插槽，可進(jìn)行一外部組件互連(PCI)測(cè)試卡與一高速外部組件互連(PCIE)測(cè)試卡的信號(hào)測(cè)試，其中此測(cè)試系統(tǒng)包含有：一接口轉(zhuǎn)換模塊以及一測(cè)試模塊；于此，接口轉(zhuǎn)換模塊設(shè)置有至少一外部組件互連(PCI)插槽與至少一高速外部組件互連(PCIE)插槽，其中此外部組件互連(PCI)插槽連接有外部組件互連(PCI)測(cè)試卡，高速外部組件互連(PCIE)插槽連接有高速外部組件互連(PCIE)測(cè)試卡；并且接口轉(zhuǎn)換模塊系與主板上的外部組件互連延伸(PCIX)插槽連接，進(jìn)而接口轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換外部組件互連(PCI)插槽的接口規(guī)格與高速外部組件互連(PCIE)插槽的接口規(guī)格為外部組件互連延伸(PCIX)插槽的接口規(guī)格，以由外部組件互連延伸(PCIX)插槽上引出外部組件互連(PCI)測(cè)試卡的信號(hào)與高速外部組件互連(PCIE)測(cè)試卡的信號(hào)。測(cè)試模塊則通過(guò)直接內(nèi)存存取(DMA)的傳輸以一次測(cè)試外部組件互連(PCI)測(cè)試卡與高速外部組件互連(PCIE)測(cè)試卡的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功能。