[發明專利]一種內存性能的生產測試方法

無效

• 申請號: 200610098872.1
• 申請日: 2006-07-17
• 公開（公告）號: CN101110271A
• 公開（公告）日: 2008-01-23
• 發明（設計）人: 汪浩然;黃毅;陳浩
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: G11C29/00
• 分類號: G11C29/00
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司
• 代理人: 王漪;王繼長

1.一種內存性能的生產測試方法，其包括以下步驟：

至少包括下列任意一種性能測試方法：

A、測試內存在帶CACHE大面積寫入后讀取的穩定性；

B、測試內存在帶CACHE隨機地址大跨度跳躍讀寫時的穩定性。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法A具體還包括：

A1、用帶Cache的方式申請最大的內存空間；

B1、向申請到的所有內存空間一次性寫入測試數據；

C1、逐個讀出各地址內的數據，與寫入的相應測試數據進行比較，如果不一致則中止測試并報告故障信息；

D1、重復步驟B1→C1的操作直至達到設定的重復測試次數；

E1、測試完后釋放所申請的內存空間。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法B還包括：

A2、用帶Cache的方式申請最大的內存空間；

B2、定義一個指針數組；

C2、依次給指針數組中的各指針賦值，使得各指針隨機指向所述步驟A2中申請到的地址空間內的任意地址值，直至數組中的所有指針地址均賦值完畢；

D2、依次向各指針所指向的內存地址中寫入隨機的測試數據；

E2、依次讀出各指針所指向的內存地址中的實際數據，與寫入的測試數據進行比較，如果不一致則中止測試并報告故障信息；

F2、重復步驟C2→E2的操作直至達到設定的重復測試次數；

G2、測試完后釋放所申請的內存空間。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述步驟C2中的各指針的賦值不重復，如果某次指針地址的賦值與前面任意一個地址值相同，則對其重新賦值。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述性能測試之前進行常規功能測試，其包括：

A3、對內存的地址空間測試；

B3、對數據線斷路或短路故障測試；

C3、對地址線斷路或短路故障測試；

D3、對內存數據讀寫測試，對所有的可用內存空間進行一次數據讀寫的遍歷測試。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述步驟A3還包括：盡可能的申請最大的地址空間，驗證內存的實際地址空間是否與設計容量相符。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述步驟A3還包括：

A31、用帶Cache的方式申請最大的內存空間。

8.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述步驟B3和C3還包括：

采用走“0”法或走“1”法對地址線或數據線進行測試。

9.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述步驟D3還包括：

D31、從所申請內存區的起始地址開始，寫入測試數據，讀出該地址中的數據，檢測與寫入的數據是否一致，出錯即報告測試結果，否則繼續測試；

D32、測試地址指針依次加1，重復第二步的測試步驟，直至所有地址測試完畢；

D33、測試完后釋放所申請的內存空間。