[發(fā)明專利]新型結(jié)點(diǎn)式瓦斯?jié)舛葘?shí)時(shí)監(jiān)測(cè)方法及傳感器無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610096907.8 | 申請(qǐng)日: | 2006-10-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1945287A | 公開(公告)日: | 2007-04-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳玖英;劉建國(guó);張玉鈞;闞瑞峰;王敏;陳東;崔益本;劉文清 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/39 | 分類號(hào): | G01N21/39;G01N21/27 |
| 代理公司: | 合肥華信專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 余成俊 |
| 地址: | 230031安*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 新型 結(jié)點(diǎn) 瓦斯 濃度 實(shí)時(shí) 監(jiān)測(cè) 方法 傳感器 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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