[發(fā)明專利]地面BRDF自動(dòng)測(cè)量架有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610096154.0 | 申請(qǐng)日: | 2006-09-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1940534A | 公開(公告)日: | 2007-04-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李新;鄭小兵;戴遠(yuǎn)敬;吳自榮;吳浩宇;喬延利;王樂(lè)意 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/55 | 分類號(hào): | G01N21/55;G01N21/47 |
| 代理公司: | 合肥華信專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 余成俊 |
| 地址: | 230031安徽省合*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 地面 brdf 自動(dòng) 測(cè)量 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200610096154.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:軟性印刷線路板及其制造方法
- 下一篇:眼科用顯微鏡
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 一種測(cè)量近地面BRDF觀測(cè)角的方法和裝置
- 一種基于多角度測(cè)量構(gòu)建二向性反射分布函數(shù)(BRDF)原型庫(kù)的方法
- 一種基于測(cè)量數(shù)據(jù)的BRDF反射模型衍生方法
- 一種基于真實(shí)材質(zhì)測(cè)量數(shù)據(jù)的光照建模方法
- 一種基于BRDF函數(shù)線性過(guò)濾的圖像渲染方法
- 一種能夠測(cè)量BRDF光譜分布的野外地物光譜儀
- 一種基于定向統(tǒng)計(jì)分析的BRDF色域映射方法
- BRDF自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 一種BRDF模型的創(chuàng)建方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種空間質(zhì)子輻照環(huán)境下材料表面BRDF建模方法
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備





