[發(fā)明專利]計算機外設(shè)接口測試裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200610084465.5
• 申請日: 2006-05-23
• 公開（公告）號: CN101079001A
• 公開（公告）日: 2007-11-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉博文
• 申請（專利權(quán)）人: 緯創(chuàng)資通股份有限公司
• 主分類號: G06F11/267
• 分類號: G06F11/267
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所
• 代理人: 魏曉剛;李曉舒

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是關(guān)于一種計算機外設(shè)測試裝置，尤其是關(guān)于一種針對測試硬盤機與光驅(qū)接口所使用的測試裝置。

背景技術(shù)

一般而言，先前技術(shù)的測試硬盤機與光驅(qū)的方法，是使用實際的硬盤機與光驅(qū)進行測試，因為直接消耗硬盤機與光驅(qū)成品，使得測試成本較高。

先前技術(shù)亦有取代實際硬盤機或光驅(qū)的方式，將硬盤機或光驅(qū)的PATA(Parallel?ATA)傳輸接口或SATA(Serial?ATA)傳輸接口，利用一個接口轉(zhuǎn)接器與存儲卡電性連結(jié)之后，借由存儲卡內(nèi)儲存的測試程序進行硬盤機或光驅(qū)的測試，其缺點在于功能簡單，且無論測試硬盤機或光驅(qū)，其外型大小與實際的硬盤機或光驅(qū)不同，造成測試時將接口轉(zhuǎn)接器連結(jié)或拔除上的不便。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的是在提供一種計算機外設(shè)接口測試裝置，利用本發(fā)明的測試裝置，可在仿真符合PATA傳輸接口標準的硬盤機、符合SATA傳輸接口標準的硬盤機、符合PATA傳輸接口標準的光驅(qū)等硬設(shè)備的情況下進行測試，避免直接消耗實際的硬盤機或光驅(qū)成品，以節(jié)省測試成本。

本發(fā)明的另一主要目的是在提供一種與實際的計算機外設(shè)裝置的大小實質(zhì)相同的計算機外設(shè)接口測試裝置，在進行測試時可方便進行測試裝置的拆裝動作。

為達成上述的目的，本發(fā)明的計算機外設(shè)接口測試裝置，是使用于計算機，計算機包括硬盤機接口與光驅(qū)接口，計算機外設(shè)接口測試裝置包括硬盤機測試模塊，是與存儲卡電性連結(jié)，存儲卡儲存至少一程序，硬盤機測試模塊包括：第一基板、多個凹槽、存儲卡槽、第一連接器及第二連接器。第一基板包括四個側(cè)邊，分別為第一側(cè)邊、第二側(cè)邊、第三側(cè)邊及第四側(cè)邊；多個凹槽位于基板周圍，用以固定第一基板；存儲卡槽設(shè)置于第一基板上，用以容置存儲卡；第一連接器是位于第二側(cè)邊，第一連接器與存儲卡槽電性連結(jié)；借此，當?shù)谝贿B接器與計算機的硬盤機接口電性連接時，可借由該至少一程序測試硬盤機接口；該第二連接器，位于該第四側(cè)邊，該第二連接器與該存儲卡槽電性連結(jié)，借此，當該第二連接器與該計算機的該硬盤機接口電性連接時，可借由該至少一程序測試該硬盤機接口。

計算機外設(shè)接口測試裝置，在測試光驅(qū)時，除硬盤機測試模塊外，還包括光驅(qū)測試模塊，該模塊包括：第二基板、第四連接器、第五連接器。第二基板包括四個邊，分別為第一側(cè)邊、第二側(cè)邊、第三側(cè)邊及第四側(cè)邊；第四連接器是位于第二基板的第一側(cè)邊，第四連接器與硬盤機測試模塊的第一連接器電性連接，使第二基板與第一基板相結(jié)合；第五連接器是位于第二基板的第三側(cè)邊，第五連接器與第四連接器電性連接，借此，當?shù)谖暹B接器與計算機的光驅(qū)接口電性連接時，可借由至少一程序測試光驅(qū)接口。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的硬盤機測試模塊的俯視圖。

圖2是本發(fā)明的光驅(qū)測試模塊的俯視圖。

圖3是本發(fā)明的硬盤機測試模塊與光驅(qū)測試模塊相結(jié)合時的俯視圖。

圖4是本發(fā)明的光驅(qū)測試模塊的音頻信號產(chǎn)生線路示意圖。

組件代表符號說明

硬盤機測試模塊?1

第一基板?10

硬盤機測試模塊的第一側(cè)邊?101

硬盤機測試模塊的第二側(cè)邊?102

硬盤機測試模塊的第三側(cè)邊?103

硬盤機測試模塊的第四側(cè)邊?104

第一連接器?11

第二連接器?12

第三連接器?13

存儲卡槽?14

凹槽?15、16、17、18

光驅(qū)測試模塊?2

第二基板?20

光驅(qū)測試模塊的第一側(cè)邊?201

光驅(qū)測試模塊的第二側(cè)邊?202

光驅(qū)測試模塊的第三側(cè)邊?203

光驅(qū)測試模塊的第四側(cè)邊?204

第四連接器?21

第五連接器?22

第六連接器?23

第七連接器?24

音頻信號產(chǎn)生線路?25

振蕩線路?26

第一分頻線路?27

第二分頻線路?28

具體實施方式

為能更了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，特舉具體實施例并配合附圖說明如下。

圖1為本發(fā)明的硬盤機測試模塊的俯視圖，圖2為本發(fā)明的光驅(qū)測試模塊的俯視圖。本發(fā)明的計算機外設(shè)測試裝置，包括如圖1所示的硬盤機測試模塊1與如圖2所示的光驅(qū)測試模塊2。當測試硬盤機時，使用硬盤機測試模塊1；當測試光驅(qū)時，須將硬盤機測試模塊1結(jié)合光驅(qū)測試模塊2一并使用。以下分別就硬盤機測試模塊1與光驅(qū)測試模塊2進行說明。