[發明專利]半導體測試裝置和接口板無效
| 申請號： | 200610083517.7 | 申請日： | 2006-05-30 |
| 公開（公告）號： | CN1873425A | 公開（公告）日： | 2006-12-06 |
| 發明（設計）人： | 高須弘光;峯尾浩之 | 申請（專利權）人： | 愛德萬測試株式會社 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04;G01R31/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 壽寧;張華輝 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 測試 裝置 接口 | ||
【權利要求書】：
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