[發明專利]測試治具與機臺的聯結機構

無效

• 申請號: 200610081181.0
• 申請日: 2006-05-24
• 公開（公告）號: CN101078737A
• 公開（公告）日: 2007-11-28
• 發明（設計）人: 蕭喜話;劉同祥;林永益
• 申請（專利權）人: 捷智科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R31/00;G01R31/28
• 代理公司: 北京天平專利商標代理有限公司
• 代理人: 張爭艷

技術領域

本發明為提供一種測試治具與機臺的聯結機構，尤指一種具有可放置待測電路板的治具盒與內部設有測試儀器的測試機臺的測試治具，而治具盒可快速推移并定位于測試機臺上，同時治具盒與測試機臺間為可快速連接形呈電性連接，而可大幅減少測試電路板時的組裝時間，同時利于快速更換不同規格的治具盒。

背景技術

按，在現行的電器產品中，為了達到更容易的控制方式以及降低生產流程，許多廠商紛紛在設計電器產品的時候，將控制家電產品的控制裝置或操作裝置予以模塊化，并統一設置在電路板中，如控制面板采用數字化的按鈕與液晶顯示器，以及內部采用微處理器對電器產品的功能進行控制，特別是在數字信息產品中，所有的功能幾乎來自電路板，藉由電路板上各類型的電子組件與電子電路的相互組合，達到各種不同的功能。

電路板早期的生產方式，幾乎為人工或半自動的生產方式，即電子組件以人工的方式插接在電路板，經過錫爐后把電子組件焊固在電路板上，最后以人工方式剪去多余的腳位；而隨著生產線的自動化與模塊化，電路板在生產制造時，已經可通過自動化的生產線進行大量的生產，而可大幅降低電路板的制造與生產成本。

不論電路板的生產方式為自動、人工或半自動，生產后的電路板在出廠前，必須經過各類型態的測試，如電磁波測試、電路功率消耗測試、抗干擾測試等，以使電路板符合政府規定的電氣安全規定，經過測試后的電路板才可包裝上市，而不論是哪一種電器產品的電路板，其測試的項目與內容幾乎大同小異，故廠商在測試時，必須依照電路板型態而設計測試治具。

如圖9所示，系為習用的測試治具示意圖，該測試治具A為具有治具盒A1與測試平臺A2，其中：

該治具盒A1上設有多個探針A11，而于治具盒A1的一側設有多個連接端口A12，且各連接端口A12系分別與探針A11呈電性連接。

該測試平臺A2為具有工作機臺A21，而工作機臺A21上為通過多個支柱A22連接有驅動裝置A23，而驅動裝置A23通過連動柱A231向下延設有壓板A232，且壓板A232上設有多個頂針A2321，另于工作機臺A21內設有多個測試裝置A24，各測試裝置A24上設有連接端口A241。

在測試治具A實際測試電路板B時，首先依據電路板B的形狀與功能選擇對應的治具盒A1，并將治具盒A1放置于測試平臺A2上，再將電路板B置放在治具盒A1上，使電路板B與治具盒A1的多個探針A11呈電性連接，同時測試平臺A2的驅動裝置A23驅動連動柱A231向下位移，而推動壓板A232的頂針A2321抵壓電路板B，以確保電路板B在測試時，能與治具盒A1的探針A11保持電性導通。

而為使測試平臺A2的多個測試裝置A24得以收電路板B的訊號，故必須將治具盒A1的連接端口A12與測試裝置A24的連接端口A241進行連接，則連接完畢后，測試治具A開始運作，而測試訊號可由測試裝置A24傳遞，而經由測試裝置A24的連接端口A241、治具盒A1的連接端口A12與探針A11傳至電路板B，同時在測試的結果回傳至測試裝置A24，而廠商將由測試治具A的人機接口(圖中未標示)對測試治具A進行控制并得知測試結果。

然上述測試治具A于使用時，著實存在下列缺失：

一、由于廠商并非只生產單一種電器產品的電路板B，故在測試時，必須依照各電路板B的大小與功能去設計治具盒A1，故每次更換治具盒A1時，必須先將治具盒A1的連接端口A12與測試裝置A24的連接端口A241間的連接線予以拔除，而更換治具盒A1之后，又必須重新將治具盒A1的連接端口A12與測試裝置A24的連接端口A241進行連接，而在反復更換治具盒A1的同時，勢必浪費許多寶貴的時間，而導致測試的時間增加，降低生產線的效率。

二、在更換治具盒A1時，必須使用人工方式將治具盒A1推至測試平臺A2上定位，而在人工推移時，治具盒A1不容易精準的定位于測試平臺A2，則當驅動裝置A23驅動連動柱A231向下位移，而推動壓板A232的頂針A2321抵壓電路板B時，亦導致電路板B受到的壓力不均勻，而在測試過程中發生偏移，影響測試的結果。是以，要如何解決上述習用的問題與缺失，即為本案的發明人與從事此行業的相關廠商所亟欲研究改善的方向所在者。

發明內容

故，發明人有鑒于上述缺失，乃搜集相關資料，經由多方評估及考量，并以從事于此行業累積的多年經驗，經由不斷試作及修改，始設計出此種測試治具與機臺的聯結機構的發明專利者。