[發明專利]一種可實現邊界掃描多鏈路測試的裝置及方法無效
| 申請號: | 200610078813.8 | 申請日: | 2006-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN101071155A | 公開(公告)日: | 2007-11-14 |
| 發明(設計)人: | 李乾坤;李宏偉;王曉卿 | 申請(專利權)人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司: | 北京安信方達知識產權代理有限公司 | 代理人: | 王漪;王繼長 |
| 地址: | 518057廣東省深圳市南山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 實現 邊界 掃描 多鏈路 測試 裝置 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種電子通訊領域的邊界掃描測試裝置及方法,具體涉及的是一種可實現邊界掃描多鏈路測試的裝置及方法。
背景技術
現有技術中,大規模集成電路的引腳越來越多,引腳間距也越來越小。特別是表面貼裝工藝的出現,集成電路復雜程度也不斷增加,電路板的布局布線密度迅速增大,在這種情況下,傳統的在線測試(ICT)技術已受到挑戰,很難準確完成測試。
在上述背景下,為解決大規模集成電路的測試問題,20世紀80年代,聯合測試活動組(JTAG,Joint?Test?Action?Group)組織制訂了邊界掃描測試標準,1990年被美國電氣電子工程師協會(IEEE)認可,并正式命名為IEEE1149.1-1990邊界掃描測試(BST,Boundary-Scan?Test)標準。
依據該協議能夠快速地測試到高密度電路板上的JTAG?IC內部故障,也可測試到JTAG芯片之間的互連故障等,解決了表面貼裝LSIC和VLSIC印制電路板電路的測試性問題。因此,基于IEEE1149.1-1990規范的邊界掃描測試技術提供了有效地測試引線間隔致密的電路板器件的能力。
現有的基于PC機邊界掃描測試儀,所能實現的都是單個邊界掃描鏈路的測試;實際上,由于很多邊界掃描芯片都需要使用其JTAG口作為調試端口或程序的下載端口,所以很多邊界掃描芯片的JTAG口都是獨立的,并未形成邊界掃描測試的鏈路。
這樣,通過邊界掃描所能測試的內容有限;如果使用在線測試儀來測試,在線測試儀動輒都是好幾百萬元,這對于一般的廠家來說,是難以承擔的費用。
中國專利號CN200310115353.8“一種邊界掃描測試控制器及邊界掃描測試方法”和中國專利號CN03143906.3“一種邊界掃描測試的實現方法及裝置”提出了一種邊界掃描測試裝置及測試方法。但一次只能測試一條掃描鏈路,沒有實現掃描鏈路到擴展功能。
歐洲專利EP0640920A1“Boundary-scan-based?system?and?method?fortest?and?diagnosis”(基于邊界掃描的測試和診斷系統及方法)可以包含多個測試鏈,但其以電路板為基礎測試對象,并且每塊板的測試是分開進行的,類似于單鏈路測試。
中國專利號CN03100316.8“多鏈邊界掃描測試系統及多鏈邊界掃描測試方法”可以解決單鏈及多鏈測試的問題,但是由于其鏈路擴展的實現方式是:選擇開關為跳線開關,跳線開關有四個跳線插針,跳線開關完成第一跳線插針與第二跳線插針之間、第一跳線插針與第三跳線插針、第三跳線插針與第四跳線插針之間的導通。該專利的多鏈擴展方式是機械式的,使用上不方便。
目前的邊界掃描測試方式具有以下缺陷:1.只能實現單鏈測試,這不利于充分利用邊界掃描資源進行測試;2.可以實現多鏈路測試,但鏈路擴展是通過機械方式實現,使用上并不方便。
因此,現有技術存在缺陷,而有待于改進和發展。
發明內容
本發明目的是提供一種可實現邊界掃描多鏈路測試的裝置及方法,用于單板級或系統級的邊界掃描測試,實現邊界掃描測試及其鏈路擴展測試,可以實現多達32個掃描鏈路的自動選擇測試。
本發明的技術方案包括:
一種可實現邊界掃描多鏈路測試的裝置,其中,包括:PC機模塊、邊界掃描測試卡及邊界掃描擴展卡;所述邊界掃描擴展卡由邊界掃描接口擴展模塊組成,用于在有多個邊界掃描測試鏈路時,通過解析PC機發送過來的測試端口選擇配置,將邊界掃描擴展卡端口上的多個邊界掃描鏈路連成一個新的邊界掃描鏈路,進行測試。
所述的裝置,其中,所述PC機模塊包括人機交互界面模塊、測試向量產生模塊、數據傳輸模塊、故障定位模塊和邊界掃描測試卡的驅動模塊;其中,
所述人機交互界面模塊用于完成人機交互、測試功能項選擇以及測試裝置的配置設置;
所述測試向量產生模塊用于完成測試向量的產生,所述數據傳輸模塊完成測試向量及端口的配置數據的發送;
所述邊界掃描測試卡的驅動模塊用于完成邊界掃描測試卡與PC機的驅動通訊。
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