[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件的探針對(duì)齊驗(yàn)證電路和方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610071827.7 | 申請(qǐng)日： | 2006-03-16 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1908575A | 公開（公告）日： | 2007-02-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 崔鐘賢;徐寧焄 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | G01B7/00 | 分類號(hào)： | G01B7/00;G01R31/00;G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人： | 邸萬奎;黃小臨 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導(dǎo)體器件 探針 對(duì)齊 驗(yàn)證 電路 方法 | ||
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