[發明專利]對稱變形場的單光束電子散斑干涉二維檢測方法無效
| 申請號： | 200610068978.7 | 申請日： | 2006-09-29 |
| 公開（公告）號： | CN1932438A | 公開（公告）日： | 2007-03-21 |
| 發明（設計）人： | 孫平 | 申請（專利權）人： | 山東師范大學 |
| 主分類號： | G01B11/16 | 分類號： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 濟南圣達專利商標事務所 | 代理人： | 王書剛 |
| 地址： | 250014山東*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 對稱 變形 光束 電子 干涉 二維 檢測 方法 | ||
【說明書】：
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