[發明專利]晶片承載盤的檢測方法無效
| 申請號： | 200610066936.X | 申請日： | 2006-03-30 |
| 公開（公告）號： | CN101046372A | 公開（公告）日： | 2007-10-03 |
| 發明（設計）人： | 盧一成 | 申請（專利權）人： | 南茂科技股份有限公司;百慕達南茂科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/26 | 分類號： | G01B11/26;G01R31/00;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 壽寧;張華輝 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 晶片 承載 檢測 方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南茂科技股份有限公司;百慕達南茂科技股份有限公司，未經南茂科技股份有限公司;百慕達南茂科技股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200610066936.X/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：中空外旋轉液壓馬達
- 下一篇：一種內服治療頸型頸椎病的中藥組合物
