[發明專利]手機測試裝置無效
| 申請號: | 200610060983.3 | 申請日: | 2006-06-07 |
| 公開(公告)號: | CN101087324A | 公開(公告)日: | 2007-12-12 |
| 發明(設計)人: | 張春霞;黃仁波;甘小林;何友光 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | H04M1/24 | 分類號: | H04M1/24;H04M1/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 手機 測試 裝置 | ||
技術領域
本發明是關于一種測試裝置,特別涉及一種手機電池性能的測試裝置。
背景技術
目前在對手機進行測試時,通過在規定溫度下對手機電池的充電或放電測試,以評估手機電池的充電或放電參數是否符合設計要求。
請參考圖1,現有一種手機電池的測試裝置用于測試兩手機16及18,包括一主機10、一與所述主機10相連接的數據采集器12及一電源20。所述電源20為所述兩手機16及18提供工作電源。所述數據采集器12包括兩電流測試通道C1,C2及兩溫度測試通道Ta,Tb。所述電流測試通道C1及所述溫度測試通道Ta分別與所述手機16相連接。所述電流測試通道C2及所述溫度測試通道Tb分別與所述手機18相連接。測試時,將所述兩手機16及18放置于一溫濕度柜14中,調節所述溫濕度柜14的溫度在一規定的范圍內,所述主機10通過執行測試程序控制所述數據采集器12對所述兩手機16及18測試,得到電池的充電電流參數及溫度參數,所述手機16及18充電測試完成后,再進行放電電流及溫度測試。
由于所述數據采集器12的電流測試通道C1及C2的測試能力有限,只能測試小于1A的充電或放電電流,測試較大的電流容易被燒毀。
發明內容
鑒于以上內容,有必要提供一種可測試較大充電或放電電流的手機測試裝置。
一種手機測試裝置,包括一主機、一與所述主機連接的數據采集器及一電源,所述數據采集器包括至少一電壓測試通道,所述電源為至少一待測手機提供工作電源,所述電源與所述待測手機之間連接一電阻,所述數據采集器的電壓測試通道連接于對應電阻的兩端。
相較現有技術,所述手機測試裝置通過所述電壓測試通道及電阻,可測試較大的充電或放電電流。
附圖說明
圖1是現有的一種手機測試裝置的原理圖。
圖2是本發明手機測試裝置的較佳實施方式的原理圖。
具體實施方式
請參考圖2,本發明手機測試裝置的較佳實施方式用于測試若干手機46,包括一主機40、一與所述主機40相連接的數據采集器42、一電源50及若干電阻45。所述電源50與每一手機46之間連接一電阻45。所述電源50為每一手機46提供工作電源。所述數據采集器42包括若干電壓測試通道V及若干溫度測試通道T,每一電壓測試通道V通過線纜連接于對應電阻45的兩端,每一溫度通道T與對應手機46相連接。
在測試時,通過將所述手機46放置于一溫濕度柜44中,調節所述溫濕度柜44的溫度在一規定的范圍內,所述主機40通過執行測試程序控制所述數據采集器42對每一手機46的電池的充電電壓及溫度測試,并通過如下公式(1)得到手機的充電電流I,
????????????????????I=V/R(1)
其中,V為每一手機46的電池的充電電壓,R為每一電阻45的阻值。所述手機46的充電測試完成后,再進行放電電流及溫度測試。
所述數據采集器42的電壓測試通道V的測試范圍較大,可測試300V內的電壓,通過選取合適阻值的電阻45,運用公式(1)實現測試大于1A的電流。
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