[發(fā)明專利]一種H.264標(biāo)準(zhǔn)的幀內(nèi)預(yù)測模式選擇方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200610060913.8
• 申請日: 2006-06-06
• 公開（公告）號: CN101087427A
• 公開（公告）日: 2007-12-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王繼山;黃慧娟;李揮;馬建設(shè);胡小民;張政操;陳慕羿;李烽;韓曉鵬
• 申請（專利權(quán)）人: 北京大學(xué)深圳研究生院
• 主分類號: H04N7/32
• 分類號: H04N7/32
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所
• 代理人: 胡吉科

1.一種H.264標(biāo)準(zhǔn)的幀內(nèi)預(yù)測模式選擇方法，所述模式選擇方法包括：

a.輸入幀圖像；

b.進(jìn)行16×16預(yù)測模式選擇；所述步驟b包括：

b1.按照16×16預(yù)測模式對所述幀圖像的當(dāng)前宏塊進(jìn)行預(yù)測；

b2.計(jì)算所述16×16預(yù)測模式下的殘差絕對值和SAD16并進(jìn)行排序；

b3.如果所述16×16預(yù)測模式下的最小殘差絕對值和SAD16_MIN小于閾值TH16_1，則將所述最小殘差絕對值和SAD16_MIN所對應(yīng)的預(yù)測模式作為所述當(dāng)前宏塊的最佳預(yù)測模式并結(jié)束所述當(dāng)前宏塊的預(yù)測模式選擇；

b4.如果所述16×16預(yù)測模式下的次小殘差絕對值和SAD16S_MIN與所述最小殘差絕對值和SAD16_MIN的差Diff16大于閾值TH16_2，則將所述最小殘差絕對值和SAD16_MIN所對應(yīng)的模式作為所述當(dāng)前宏塊的最佳16×16預(yù)測模式；

b5.如果所述最小殘差絕對值和SAD16_MIN大于閾值TH16_3，則結(jié)束所述步驟b，跳轉(zhuǎn)到步驟c進(jìn)行4×4預(yù)測模式選擇；

b6.計(jì)算所述16×16預(yù)測模式下的再殘差絕對值和SATD16并將最小再殘差絕對值和SATD16_MIN所對應(yīng)的預(yù)測模式作為所述當(dāng)前宏塊的最佳16×16預(yù)測模式；

b7.如果在步驟b4或b6中確定了所述當(dāng)前宏塊的最佳16×16預(yù)測模式，計(jì)算所述最佳16×16預(yù)測模式的率失真代價(jià)RDcost16；并結(jié)束16×16預(yù)測模式選擇過程，跳轉(zhuǎn)到步驟c進(jìn)行4×4預(yù)測模式選擇；

c.進(jìn)行4×4預(yù)測模式選擇；所述步驟c包括：

c1.按照4×4預(yù)測模式對所述幀圖像的4×4宏塊進(jìn)行預(yù)測；

c2.計(jì)算所述4×4預(yù)測模式下的殘差絕對值和SAD4并進(jìn)行排序；

c3.如果所述4×4預(yù)測模式下的次小殘差絕對值和SAD4S_MIN與最小殘差絕對值和SAD4_MIN的差Diff4大于閾值TH4_1，則將所述最小殘差絕對值和SAD4_MIN所對應(yīng)的預(yù)測模式作為所述4×4宏塊的最佳4×4預(yù)測模式；

c4.如果量化系數(shù)QP＞28，且所述最小殘差絕對值和SAD4_MIN所對應(yīng)的預(yù)測模式為最有可能模式，則將所述最小殘差絕對值和SAD4_MIN所對應(yīng)的模式作為所述4×4宏塊的最佳4×4預(yù)測模式；

c5.以率失真最優(yōu)化方法從所述最小殘差絕對值和SAD4_MIN、所述次小殘差絕對值和SAD4S_MIN與最有可能模式MPM中選擇所述4×4宏塊的最佳4×4預(yù)測模式；

c6.如果經(jīng)所述步驟c5選擇出的最佳4×4預(yù)測模式的4×4塊的率失真代價(jià)RDcost4的和S_RDcost4大于所述步驟b中選擇出的最佳16×16預(yù)測模式的率失真代價(jià)RDcost16，則將所述最佳16×16預(yù)測模式作為最佳預(yù)測模式并結(jié)束所述幀圖像的模式選擇；

d.如果同時(shí)存在最佳16×16預(yù)測模式和4×4預(yù)測模式，對所述步驟b中選擇的最佳16×16預(yù)測模式與所述步驟c中選擇的所述當(dāng)前宏塊的最佳4×4預(yù)測模式進(jìn)行比較，以選出兩種預(yù)測類型中的殘差絕對值和最小的作為當(dāng)前宏塊的最佳模式。