[發(fā)明專利]光盤偏心的測量方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200610060442.0
• 申請日: 2006-04-20
• 公開（公告）號(hào): CN101059971A
• 公開（公告）日: 2007-10-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 高金路;馬建設(shè);李揮;齊國生;張磊;秦利琴;袁海波;陳慕羿
• 申請（專利權(quán)）人: 北京大學(xué)深圳研究生院;清華大學(xué)深圳研究生院
• 主分類號(hào): G11B7/095
• 分類號(hào): G11B7/095
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所
• 代理人: 胡吉科

1.一種光盤偏心測量方法，其特征在于：所述測量方法包括：

a.將光盤伺服系統(tǒng)設(shè)置為聚焦閉環(huán)循跡開環(huán)狀態(tài)；

b.獲得所述光盤伺服系統(tǒng)在讀取預(yù)檢測光盤時(shí)產(chǎn)生的道跟蹤誤差信號(hào)，并確定所述道跟蹤誤差信號(hào)中高頻段的正弦波數(shù)量；

c.將所述正弦波數(shù)量乘以軌道間距，以確定所述預(yù)檢測光盤的偏心值；

其中，在所述步驟b中，進(jìn)一步包括：

利用足夠高的采樣頻率f采集所述道跟蹤誤差信號(hào)以獲得采樣數(shù)據(jù)；

對(duì)所述采樣數(shù)據(jù)取平均，以獲得零電平；

確定所有過零采樣點(diǎn)及對(duì)應(yīng)兩相鄰過零采樣點(diǎn)的過零間隔；

在每預(yù)定數(shù)量k的采樣點(diǎn)中確定最大的過零間隔，并將對(duì)應(yīng)信號(hào)段作為標(biāo)志段；

計(jì)算每相鄰兩個(gè)標(biāo)記段的過零采樣點(diǎn)數(shù)量并求平均值；以及

將所述平均值除以2，以確定所述正弦波數(shù)量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量方法，其特征在于：在所述步驟b中，進(jìn)一步包括將所述光盤伺服系統(tǒng)的主軸電機(jī)轉(zhuǎn)速設(shè)為一倍速。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量方法，其特征在于：在所述步驟b中進(jìn)一步包括在采樣處理前對(duì)所述道跟蹤誤差信號(hào)進(jìn)行低通濾波。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測量方法，其特征在于：所述道跟蹤誤差信號(hào)為所述預(yù)檢測光盤旋轉(zhuǎn)多周的道跟蹤誤差信號(hào)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測量方法，其特征在于：所述預(yù)定數(shù)量k為所述預(yù)檢測光盤旋轉(zhuǎn)半周的采樣點(diǎn)數(shù)量。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測量方法，其特征在于：所述預(yù)定數(shù)量k由觀察所述道跟蹤誤差信號(hào)的波形確定。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測量方法，其特征在于：所述預(yù)定數(shù)量k由所述預(yù)檢測光盤的角速度ω和所述采樣頻率f確定，其中：

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測量方法，其特征在于：所述預(yù)定數(shù)量k由所述預(yù)檢測光盤的角速度ω和所述采樣頻率f確定，其中：

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量方法，其特征在于：所述測量方法進(jìn)一步包括：確定所述光盤伺服系統(tǒng)的機(jī)芯偏心，并依據(jù)所述機(jī)芯偏心對(duì)所述預(yù)檢測光盤的偏心值進(jìn)行校正。