[發明專利]一種用于平板顯示產品EDID抄寫及測試的方法

無效

• 申請號: 200610060176.1
• 申請日: 2006-04-05
• 公開（公告）號: CN101051434A
• 公開（公告）日: 2007-10-10
• 發明（設計）人: 李曉亮
• 申請（專利權）人: 深圳TCL新技術有限公司
• 主分類號: G09G3/20
• 分類號: G09G3/20;G02F1/13;G01R31/00;G06F13/10
• 代理公司: 深圳市永杰專利商標事務所
• 代理人: 王志強

技術領域

本發明涉及一種EDID抄寫及測試系方法，該方法主要應用于平板顯示產品的制造流程對EDID準確、可靠、快速地寫入及檢測。

背景技術

平板顯示產品中普遍用到的一種技術叫做DDC，即Display?Data?Channel(顯示數據通道)，通過DDC，可以實現產品的即插即用，還可以擴展顯示產品的很多功能，實現產品的兼容。DDC傳輸的數據稱為EDID(Extended?DisplayIdentification?Data擴展顯示器識別數據)。EDID中包含了產品支持的分辨率、場頻、顏色深度、制造商等信息。

在平板顯示產品的制造過程中需要抄寫及檢測EDID，存儲EDID的是一片由I²C總線控制的E²PROM(帶電可插除可編程存儲器)，傳統的方法是預先燒入二進制文件到E²PROM中，然后通過電腦的顯卡和產品通信得到EDID信息，在電腦的硬件屬性中查看。這種檢測方法效率低，成本高，穩定性差，對故障機的修理也很麻煩，需要拆開產品外殼，拆下E²PROM重新燒寫，增加了工作量。傳統的方式需要裝有DVI顯卡的PC，每天經受幾百次的熱插拔，一般的DVI顯卡的壽命都只有三個月，需要經常更換新顯卡，每塊DVI顯卡的價錢都在1000元以上，造成了大量的浪費及高額的燒制成本；而且傳統方式需要專門人員預先燒入EDID到E²PROM中，在SKD工序和FA工序都需要人員進行檢測，不良品修理需要拆下E²PROM，重新燒錄，再重新檢測，浪費了大量的人力

因此，設計高性能的EDID抄寫及檢測方法是很有必要的。

發明內容

本發明的目的是提供一套高效率、低成本、高可靠性的平板顯示產品EDID抄寫及測試方法，該方法還可進行及時地檢測抄寫是否準確，應用于平板顯示產品制造流程中。

本發明的另一個目的是突破將傳統的抄寫方式，將寫入及檢測結合起來創造新式的寫入及檢測方法，保證寫入數據的準確、可靠。

本發明的再一個目的是提供一種平板顯示產品EDID抄寫及測試方法，該方法結合計算機的使用，不僅能夠準確地寫入數據，在寫入的同時通過雙重校驗實現寫入的準確可靠，且利用計算機實現快速及時地進行寫入數據的檢測，保證了寫入數據的準確性。

本發明思想是利用計算機通過產品的外部接口(目前包括VGA，DVI，HDMI接口)和內部E²PROM進行通信，實現EDID的抄寫、讀取、檢測，同時可以進行各個接口的信源檢查。

一種用于平板顯示產品EDID抄寫及測試的方法，該方法是利用計算機控制單片機，單片機連接產品的外部接口，對產品的E²PROM中的EDID進行讀寫及檢測，其特征在于該方法包括如下步驟：

a、啟動系統，檢測計算機、單片機及外部接口是否安全連接，計算機與單片機開始通訊；

b、在計算機上導入EDID源文件到緩存區，

c、在軟件界面上點擊不同的按鈕，選擇“抄寫”時，計算機和單片機進行“握手”，然后計算機發送數據到單片機，再由單片機寫入到產品的E²PROM中；

d、選擇“校驗”時，計算機和單片機進行“握手”，然后單片機發送數據到計算機，計算機接收完所有的數據后通過比較CHECKSUM和產品的型號來判斷校驗是否正確。

上述的數據的檢測，可在寫入時同時進行，也可寫入完畢后再進行檢測。計算機和單片機之間通過RS232接口進行串口通信。

并且使用單片機模擬I²C器件，和產品內部E²PROM進行I²C通信。

所述的對于已經寫入數據的EDID，不需要步驟b，只進行步驟a和c即可。

寫入EDID時，MCU會接收從PC發出的每一字節數據，然后每字節寫到E²PROM中；讀出EDID時，則是相反的過程，按字節讀出E²PROM中的數據，然后按字節發送到PC端。