[發明專利]α射線測定裝置和α射線測定方法無效
| 申請號： | 200610059888.1 | 申請日： | 2004-03-22 |
| 公開（公告）號： | CN1847884A | 公開（公告）日： | 2006-10-18 |
| 發明（設計）人： | 涉谷徹;海原明久 | 申請（專利權）人： | 株式會社日立制作所 |
| 主分類號： | G01T1/24 | 分類號： | G01T1/24;H01L31/09 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人： | 朱丹 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 射線 測定 裝置 方法 | ||
【權利要求書】：
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