[發明專利]振鏡式快掃描電光取樣的THz檢測系統和方法無效
| 申請號： | 200610057110.7 | 申請日： | 2006-03-09 |
| 公開（公告）號： | CN1815187A | 公開（公告）日： | 2006-08-09 |
| 發明（設計）人： | 趙國忠 | 申請（專利權）人： | 首都師范大學 |
| 主分類號： | G01N21/27 | 分類號： | G01N21/27;G01N21/17 |
| 代理公司： | 北京諾孚爾知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 龐濤 |
| 地址： | 100037北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 振鏡式快 掃描 電光 取樣 thz 檢測 系統 方法 | ||
【權利要求書】：
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