[發(fā)明專利]一種圓二色性的測量裝置及其測量方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610053934.7 | 申請日： | 2006-10-10 |
| 公開（公告）號： | CN1945281A | 公開（公告）日： | 2007-04-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 陶衛(wèi)東;潘雪豐;白貴儒 | 申請（專利權(quán)）人： | 寧波大學(xué) |
| 主分類號： | G01N21/19 | 分類號： | G01N21/19;G06F19/00 |
| 代理公司： | 寧波海曙奧圣專利代理事務(wù)所 | 代理人： | 程曉明 |
| 地址： | 315211浙江*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 圓二色性 測量 裝置 及其 測量方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于寧波大學(xué)，未經(jīng)寧波大學(xué)許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200610053934.7/2.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01 測量；測試
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 用于真空紫外或更短波長圓二色性光譜學(xué)的方法和設(shè)備
- 一種雙F型納米孔陣列及其調(diào)控圓二色性的方法
- 一種增強圓偏振光圓二色性的光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 一種實現(xiàn)圓二色性的微納金屬結(jié)構(gòu)及其應(yīng)用
- 一種可調(diào)諧的圓二色性結(jié)構(gòu)
- 一種基于金屬微納結(jié)構(gòu)的圓二色性可調(diào)的結(jié)構(gòu)
- 一種吸收圓二色性可調(diào)的結(jié)構(gòu)
- 一種基于傾斜納米棒的圓二色性結(jié)構(gòu)
- 一種阿基米德螺線的圓二色性光譜的調(diào)節(jié)裝置
- 動態(tài)調(diào)控增強圓二色性的裝置及系統(tǒng)
