[發(fā)明專利]判斷串補(bǔ)線路單相接地故障時(shí)故障點(diǎn)位置的方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200610048438.2
• 申請(qǐng)日: 2006-07-20
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101109781A
• 公開(kāi)（公告）日: 2008-01-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳雙惠;李瑞生;張克元;樊占峰;王向兵
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 許繼集團(tuán)有限公司;許繼電氣股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/02
• 分類號(hào): G01R31/02;G01R31/08
• 代理公司: 鄭州聯(lián)科專利事務(wù)所
• 代理人: 陳浩

1.一種判斷串補(bǔ)線路單相接地故障時(shí)故障點(diǎn)位置的方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

①利用故障后MOV導(dǎo)通之前的暫態(tài)量數(shù)據(jù)，避開(kāi)MOV非線性特性的影響，根據(jù)串補(bǔ)電容前后故障不同的電流電壓關(guān)系，建立起兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)模型，即串補(bǔ)電容前故障模型和串補(bǔ)電容后故障模型：

串補(bǔ)電容前故障(F1)模型：

$u_{\mathrm{Am}}=R(i_{\mathrm{Am}}+k_R{i}_{m0})+L\frac{d(i_{\mathrm{Am}}+k_L{i}_{m0})}{\mathrm{dt}}+R_F^{\′}{i}_{m0}$

串補(bǔ)電容后故障(F2)模型：

$u_{\mathrm{Am}}=R(i_{\mathrm{Am}}+k_R{i}_{m0})+L\frac{d(i_{\mathrm{Am}}+k_L{i}_{m0})}{\mathrm{dt}}+\frac{1}{C}{\∫}_0^t{i}_{\mathrm{Am}}\mathrm{dt}+u\left(t_0\right)+R_F^{\′}{i}_{m0}$

其中待求量是線路參數(shù)R，L，過(guò)渡電阻R_F′，電容初始電壓u(t₀)，另外C為串補(bǔ)容量，u_Am，i_Am，i_m0為采樣據(jù)，k_L，k_R是已知值；

②將故障后對(duì)故障電流、電壓的一組采樣數(shù)據(jù)分別代入兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)模型，形成兩個(gè)方程組進(jìn)行線路參數(shù)的估計(jì)計(jì)算，然后比較用兩個(gè)模型分別計(jì)算出來(lái)線路的電感值的離散度；

③分別采用兩個(gè)故障模型來(lái)計(jì)算，若選擇模型正確即模型與實(shí)際的故障情況相吻合，計(jì)算所得的電感曲線為水平光滑直線，電感計(jì)算值離散度較小，若選擇模型不正確即模型與實(shí)際的故障情況不吻合，計(jì)算所得的電感曲線為非水平光滑直線，電感計(jì)算值離散度較大，電感計(jì)算值離散度相對(duì)較小的那個(gè)故障模型所代表的位置即為故障位置。