[發明專利]近場記錄光盤的跟蹤伺服控制裝置及方法

無效

• 申請號: 200610030836.1
• 申請日: 2006-09-05
• 公開（公告）號: CN101140767A
• 公開（公告）日: 2008-03-12
• 發明（設計）人: 金震擁;申胤燮;徐正橋
• 申請（專利權）人: 上海樂金廣電電子有限公司
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09;G11B11/00
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 王月珍

1.一種近場記錄光盤的跟蹤伺服控制方法，其特征在于：

利用單光束推挽方式來控制跟蹤伺服動作，并在對用來檢測間隔誤差信號的光電檢測器進行二分割；

同時，利用分別在上述二分割后的區域中進行光電轉換的信號之間的差值來消除推挽信號中所包括的DC偏移成份。

2.如權利要求1所述的近場記錄光盤的跟蹤伺服控制方法，其特征在于：

將上述消除了DC偏移成份的推挽信號作為跟蹤誤差信號進行檢測，然后為了使該跟蹤誤差信號達到最小，而執行使物鏡和固態浸沒透鏡一起向左右移動的跟蹤伺服動作。

3.一種近場記錄光盤的跟蹤伺服控制方法，其特征在于：

為了對推挽信號進行檢測，而在算出分別在被二分割為A區域和B區域的光電檢測器中進行光電轉換的A信號和B信號的差值A-B；

同時，將檢測間隔誤差信號的光電檢測器二分割為C區域和D區域，然后算出分別在該二分割后的區域中進行光電轉換的C信號和D信號的差值C-D，

然后從上述A信號和B信號的差值A-B中，減去與上述C信號和D信號的差值成比例的值k(C-D)，再將其作為跟蹤誤差信號TE＝(A-B)-k(C-D)進行檢測。

4.如權利要求3所述的近場記錄光盤的跟蹤伺服控制方法，其特征在于：

與所述C信號和D信號的差值成比例的值k(C-D)就是所述A信號和B信號的差值A-B中所包含的DC偏移成份。

5.如權利要求3所述的近場記錄光盤的跟蹤伺服控制方法，其特征在于：

為了使上述跟蹤誤差信號TE＝(A-B)-k(C-D)達到最小而執行使所述物鏡和固態浸沒透鏡一起進行左右移動的跟蹤伺服動作。

6.一種近場記錄光盤的跟蹤伺服控制裝置，其特征在于包括以下幾個組成部分：

為了檢測推挽信號而被二分割為A區域和B區域的第1光電轉換設備；為了檢測間隔誤差信號而被二分割為C區域和D區域的第2光電轉換設備，所述第2光電轉換設備從分別依靠上述第1光電轉換設備進行光電轉換的A信號和B信號的差值A-B中，減去與依靠第2光電轉換設備進行光電轉換的C信號和D信號的差值成比例的值k(C-D)，然后將其作為。

7.如權利要求6所述的近場記錄光盤的跟蹤伺服控制裝置，其特征在于：

所述與C信號和D信號的差值成比例的值k(C-D)就是上述A信號和B信號的差值A-B中所包含的DC偏移成份。

8.如權利要求6所述的近場記錄光盤的跟蹤伺服控制裝置，其特征在于還包括：

為了使所述跟蹤誤差信號TE＝(A-B)-k(C-D)達到最小而使物鏡和固態浸沒透鏡一起進行左右移動的跟蹤伺服控制器。