[發(fā)明專利]基于DSP技術(shù)的X光探測(cè)器無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610025631.4 | 申請(qǐng)日: | 2006-04-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101055260A | 公開(kāi)(公告)日: | 2007-10-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彭寧嵩;史修棟;閆利娟;吳家榮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海高晶金屬探測(cè)設(shè)備有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/04 | 分類號(hào): | G01N23/04;G03B42/02 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 | 代理人: | 王敏杰 |
| 地址: | 200090上海市*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 dsp 技術(shù) 探測(cè)器 | ||
1、一種基于DSP技術(shù)的X光探測(cè)器,包括X光傳感器模塊、A/D轉(zhuǎn)換模塊和數(shù)字處理器,其特征在于:該X光傳感器模塊和A/D轉(zhuǎn)換模塊都是16位的,該數(shù)字處理器采用圖像處理專用DSP;其中,X光傳感器模塊通過(guò)程控運(yùn)算放大電路與A/D轉(zhuǎn)換模塊連接,該A/D轉(zhuǎn)換模塊與DSP連接,且上述模塊分別與CPLD連接。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于DSP技術(shù)的X光探測(cè)器,其特征在于:該圖像處理專用DSP是型號(hào)TMS320DM642GDK-600的處理器。
3、根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于DSP技術(shù)的X光探測(cè)器,其特征在于:該DSP可采用有限沖擊相應(yīng)濾波算法,降低噪聲。
4、根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于DSP技術(shù)的X光探測(cè)器,其特征在于:該DSP能對(duì)數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)偏移校準(zhǔn)和增益校準(zhǔn)。
5、根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于DSP技術(shù)的X光探測(cè)器,其特征在于:該DSP可進(jìn)行探測(cè)結(jié)果溫度校正,及運(yùn)行環(huán)境溫度報(bào)警。
6、根據(jù)權(quán)利要求1或2或3或4或5所述的基于DSP技術(shù)的X光探測(cè)器,其特征在于:該DSP與100M以太網(wǎng)連接。
7、根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于DSP技術(shù)的X光探測(cè)器,其特征在于:該CPLD分別與RS422和/或RS232接口連接。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
- 防止技術(shù)開(kāi)啟的鎖具新技術(shù)
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