[發(fā)明專利]實(shí)現(xiàn)探針與相變存儲(chǔ)器器件單元納米電極可靠接觸的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610023827.X | 申請(qǐng)日： | 2006-02-10 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1832050A | 公開（公告）日： | 2006-09-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 宋志棠;吳良才;劉波;封松林 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào)： | G11C29/00 | 分類號(hào)： | G11C29/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 | 代理人： | 潘振甦 |
| 地址： | 200050*** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 實(shí)現(xiàn) 探針 相變 存儲(chǔ)器 器件 單元 納米 電極 可靠 接觸 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn)；備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位，例如，損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù)；存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置，例如，可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置，例如，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
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