[發明專利]微電子器件的重要參數的確認方法無效
| 申請號： | 200610018328.1 | 申請日： | 2006-02-07 |
| 公開（公告）號： | CN101017187A | 公開（公告）日： | 2007-08-15 |
| 發明（設計）人： | 沈森祖;石堅;夏強民 | 申請（專利權）人： | 中國船舶重工集團公司第七○九研究所 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 武漢金堂專利事務所 | 代理人： | 胡清堂 |
| 地址： | 430074湖北*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 微電子 器件 重要 參數 確認 方法 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國船舶重工集團公司第七○九研究所，未經中國船舶重工集團公司第七○九研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200610018328.1/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：用大豆油腳制取粉末磷脂、藥用及針劑卵磷脂的方法
- 下一篇：自行車自動變速器
