[發明專利]一種基于動態刷新機制的壞點檢測電路有效
| 申請號： | 200610012124.7 | 申請日： | 2006-06-06 |
| 公開（公告）號： | CN1889696A | 公開（公告）日： | 2007-01-03 |
| 發明（設計）人： | 楊柱;劉健;高曉宇;周天夷 | 申請（專利權）人： | 北京中星微電子有限公司 |
| 主分類號： | H04N17/02 | 分類號： | H04N17/02 |
| 代理公司： | 北京安信方達知識產權代理有限公司 | 代理人： | 龍洪;霍育棟 |
| 地址： | 100083北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 動態 刷新 機制 檢測 電路 | ||
【說明書】：
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