[發(fā)明專利]自動測試裝置校準因子的遞增產生有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610001187.2 | 申請日： | 2006-01-13 |
| 公開（公告）號： | CN1804648A | 公開（公告）日： | 2006-07-19 |
| 發(fā)明（設計）人： | 周正容;麥克·米歐赫姆 | 申請（專利權）人： | 安捷倫科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 自動 測試 裝置 校準 因子 遞增 產生 | ||
【說明書】：
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