[發明專利]TCP處理裝置

無效

• 申請號: 200580051390.4
• 申請日: 2005-08-25
• 公開（公告）號: CN101292170A
• 公開（公告）日: 2008-10-22
• 發明（設計）人: 大西武士;村野壽;近藤雅史;今泉勝博
• 申請（專利權）人: 株式會社愛德萬測試
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 岳耀鋒

技術領域

本發明涉及用于對作為IC器件的一種的、TCP(Tape?Carrier?Package，帶載封裝)、COF(Chip?On?Film、芯片在膜上)進行測試的TCP處理裝置。下面，將通過TCP、COF、其它TAB(Tape?Automated?Bonding，帶載自動鍵合)安裝技術制造的器件統稱為“TCP”。

背景技術

在IC器件等的電子部件的制造過程中，必須有對位于最終制造的IC器件和位于中間階段的器件等的性能、功能進行測試的電子部件測試裝置，在TCP的情況下，采用TCP用的測試裝置。

TCP用的測試裝置一般由測試儀主體、測試頭、TCP處理裝置(下面有時稱為“TCP處理器”)構成。該TCP處理器通過運送在帶(還包括膜的概念，下同。)上形成多個TCP的載帶，將載帶按壓于與測試頭電連接的探測卡的探測器上，使TCP的外部端子與探測器接觸，由此獲得依次對多個TCP進行測試的功能。

另外，如果在測試中確認了TCP所必需的性能、功能，則判斷為通過(判斷為合格品)，另一方面，在未確認時則判斷為失敗(判斷為不合格)。但是，判斷為失敗，不但有TCP本身為不合格品的情況，也有伴隨TCP相對于探測卡的定位不準確而造成的不良情形，另外，還有伴隨接觸狀態下的接觸電阻大的不良情形。由于因定位不良等而被判斷為失敗的TCP中具有合格品，如果進行再測試，能夠發現合格品，則可提高TCP的成品率。

在這里，在載帶中，針對各TCP，在一個或多個部位設置定位用的標記(對準標記)，以該對準標記為基準進行定位。即，采用照相機等以對準標記為基準確認TCP相對于探測卡的位置，并且根據需要對位置偏移進行修正，但是，即使如此，仍有因定位不良判斷為失敗的情況。

此外，設置于探測卡上的多個探針，通過數十萬次的測試，與TCP的外部端子接觸的前端部的位置相對于最初的狀態發生變化，產生波動。有由此導致的判斷為失敗的情況。而且，還有因灰塵附著于探針的前端或探針的前端的接觸電阻增加，接觸狀態為不穩定的狀態，由此而判斷為失敗的情況。另外，還有由于載帶的種類、載帶面的反射條件，而通過照相機無法清楚地檢測對準標記的輪廓的情況。

在TCP被判斷為失敗時，操作者暫時停止測試裝置，確認被判斷為失敗的TCP的外部端子和探測器的位置關系，在該位置關系不合適時，在通過手動操作進行對位使得兩者確實接觸之后，進行再測試。通過再測試而判斷為通過的TCP為合格品。雖然通過這樣的操作者的確認操作，TCP的成品率可提高，但是，由于測試裝置的停止時間增長，所以具有測試的生產率低的難題。

為此，有可同時進行兩個以上的TCP的測試的、具有探測卡和測試頭的TCP用的測試裝置。這樣，通過同時進行兩個以上的TCP的測試，可提高測試的生產率。

發明內容

(發明要解決的問題)

但是，如果同時進行測試的TCP的數量為多個，則一起接觸的區域加寬。特別是，在進一步推進多插腳化和窄間距化的TCP的測試中，不容易正確地進行同時測試的全部TCP的定位。如果同時測試多個TCP，則因定位不良而把合格品的TCP判斷為失敗的頻率增加。如果判斷為失敗的頻率增加，則暫時停止測試裝置，操作者確認或通過手動操作進行對位的頻率增加，由此，測試的生產率降低。即，即使在增加同時測試的TCP的數量來提高生產率的情況下，與此相伴隨，測試裝置的暫時停止頻率也增加，由此，測試裝置的工作時間減少，未必能獲得充分的提高生產率的效果。

本發明正是針對這樣的實際情況而提出的，其目的在于提供對于在每次測試中可同時對兩個以上的TCP進行測試的TCP處理裝置，可進一步提高測試的生產率的TCP處理裝置。

(解決問題用的技術方案)

為了實現上述目的，第一，本發明提供一種TCP處理裝置，通過采用與同時測試的多個TCP相對應的探測卡，將載帶上的多個TCP的外部端子與探測卡的接觸端子電接觸，能夠同時對多個TCP進行測試，其特征在于：在最初的測試中，同時對多個TCP進行測試，在上述同時測試中被判斷為不合格的判斷不合格TCP移到不同于該判斷不合格TCP所接觸的接觸端子的另一接觸端子的位置之后，再次進行測試(發明1)。