[發明專利]探測在紡織材料中的雜質

有效

• 申請號: 200580051140.0
• 申請日: 2005-10-13
• 公開（公告）號: CN101228434A
• 公開（公告）日: 2008-07-23
• 發明（設計）人: S·N·拉馬錢德蘭;納拉亞納斯瓦米·卡維塔;巴拉蘇布拉瑪尼姆·沙姆格·桑德拉姆
• 申請（專利權）人: 第一伊沃爾維克斯私人有限公司
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89;D01H13/22
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司
• 代理人: 霍育棟;顏濤

1.一種用于探測在紡織材料中雜質的設備，該紡織材料特別是例如紗線(1)的束狀材料或者紡織材料(11)碎片流，該設備包括用于發射可見光的第一光源(2)、用于在紅外光譜輻射的第二光源(3)、對從紡織材料反射的可見光敏感并用于產生對應的第一探測器信號的第一探測器(4)，以及對在從紡織材料反射的紅外光譜中的輻射敏感并用于產生對應的第二探測器信號的第二探測器(5)，光源(2、3)和探測器(4、5)布置成照射和觀察紡織材料相同區段，而信號處理區段(7)用于確定兩個探測器信號的加權差值，并當所述差值超過閾值時輸出指示污染物存在的信號。

2.如權利要求1的設備，用于根據第二探測器信號對加權差值進行標稱化。

3.如權利要求2的設備，其中信號處理區段(7)用于把加權差值Dw確定為

Dw＝((k*Sv)-Si)/Si，

其中Sv是第一探測器信號值，Si是第二探測器信號值，以及k為基本上恒定的加權系數。

4.如權利要求1到3之一的設備，其中第二光源(3)為紅外光源。

5.如權利要求1到3之一的設備，其中第一和第二光源(2、3)相同，即形成組合光源。

6.如前面權利要求之一的設備，其中紡織材料為紗線(1)，而該設備還包括作為位置探測器的至少第三探測器(24)，該位置探測器相對于紗線(1)與對應的光源(2、3)相對布置，其中信號處理區段(7)用于使用來自第三探測器(24)的信號，以指示污染物是否存在。

7.如權利要求6的設備，其中只有當在位置信號變化沒有超過預定閾值時，處理區段(7)才用于指示污染物存在。

8.如前面權利要求之一的設備，用于根據第一和第二探測器信號的長期平均值來修改加權系數k。

9.一種用于探測在紡織材料中的方法，該紡織材料特別是束狀紡織材料，該方法包括的步驟為：

·對準紡織材料區段發射可見光；

·對準紡織材料相同區段發射紅外光譜中的輻射；

·探測來自紡織材料反射的可見光并產生對應的第一探測器信號；

·探測來自紡織材料反射的在紅外光譜的幅射并產生對應的第二探測器信號；

·確定兩個探測器信號的加權差值；

·以及當所述差值超過閾值時輸出指示污染物存在的信號。

10.如權利要求9的方法，包括的步驟為：

根據第二探測器信號使加權差值標稱化，其中標稱化通過如下實現，即把加權差值Dw確定為

Dw＝((k*Sv)-Si)/Si，

其中Sv是第一探測器信號值，而Si是第二探測器信號值，以及k為基本上恒定的加權系數。

11.如權利要求9到10之一的方法，包括的步驟為：

·利用來自第三探測器(24)的位置信號，以指示在紗線(1)中污染物是否存在，其中第三探測器(24)相對于紗線(1)與光源(2、3)相對布置。

12.如權利要求9到11之一的方法，包括的步驟為：

·確定可見光探測器(4)的采樣值Sv和紅外光探測器(5)的采樣值Si，并利用以下參數中至少兩個的組合，用于判定污染物是否存在以及是否應該去除：

o兩個探測器信號比值Sv/Si與預定參照比值Y的偏差；

o可見光值Sv與預定參照值Yv的偏差；

oIR光值Si與預定參照值Yi的偏差；

o前面兩個偏差的比值。

13.如權利要求12的方法，包括的步驟為：

·確定兩個光譜信號的比值Sv/Si；把瞬間比值Sv/Si與預定最小閾值極限相比，以及如果信號超過此極限預定時間，則指示污染物存在；

·計算在可見光譜中光譜信號Sv與預定參照值Yv的偏差，以及如果此偏差超過預定極限，則指示第一類污染物存在；

·計算在紅外光譜中光譜信號Si與預定參照值Yi的偏差，以及如果此偏差超過預定極限，則指示第二類污染物存在；以及

·計算這兩個偏差的比值并根據此比值對污染物種類進行進一步分類。