[發(fā)明專利]探測在紡織材料中的雜質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200580051140.0
• 申請日: 2005-10-13
• 公開（公告）號: CN101228434A
• 公開（公告）日: 2008-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: S·N·拉馬錢德蘭;納拉亞納斯瓦米·卡維塔;巴拉蘇布拉瑪尼姆·沙姆格·桑德拉姆
• 申請（專利權(quán)）人: 第一伊沃爾維克斯私人有限公司
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89;D01H13/22
• 代理公司: 北京安信方達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 霍育棟;顏濤

1.一種用于探測在紡織材料中雜質(zhì)的設(shè)備，該紡織材料特別是例如紗線(1)的束狀材料或者紡織材料(11)碎片流，該設(shè)備包括用于發(fā)射可見光的第一光源(2)、用于在紅外光譜輻射的第二光源(3)、對從紡織材料反射的可見光敏感并用于產(chǎn)生對應(yīng)的第一探測器信號的第一探測器(4)，以及對在從紡織材料反射的紅外光譜中的輻射敏感并用于產(chǎn)生對應(yīng)的第二探測器信號的第二探測器(5)，光源(2、3)和探測器(4、5)布置成照射和觀察紡織材料相同區(qū)段，而信號處理區(qū)段(7)用于確定兩個探測器信號的加權(quán)差值，并當所述差值超過閾值時輸出指示污染物存在的信號。

2.如權(quán)利要求1的設(shè)備，用于根據(jù)第二探測器信號對加權(quán)差值進行標稱化。

3.如權(quán)利要求2的設(shè)備，其中信號處理區(qū)段(7)用于把加權(quán)差值Dw確定為

Dw＝((k*Sv)-Si)/Si，

其中Sv是第一探測器信號值，Si是第二探測器信號值，以及k為基本上恒定的加權(quán)系數(shù)。

4.如權(quán)利要求1到3之一的設(shè)備，其中第二光源(3)為紅外光源。

5.如權(quán)利要求1到3之一的設(shè)備，其中第一和第二光源(2、3)相同，即形成組合光源。

6.如前面權(quán)利要求之一的設(shè)備，其中紡織材料為紗線(1)，而該設(shè)備還包括作為位置探測器的至少第三探測器(24)，該位置探測器相對于紗線(1)與對應(yīng)的光源(2、3)相對布置，其中信號處理區(qū)段(7)用于使用來自第三探測器(24)的信號，以指示污染物是否存在。

7.如權(quán)利要求6的設(shè)備，其中只有當在位置信號變化沒有超過預(yù)定閾值時，處理區(qū)段(7)才用于指示污染物存在。

8.如前面權(quán)利要求之一的設(shè)備，用于根據(jù)第一和第二探測器信號的長期平均值來修改加權(quán)系數(shù)k。

9.一種用于探測在紡織材料中的方法，該紡織材料特別是束狀紡織材料，該方法包括的步驟為：

·對準紡織材料區(qū)段發(fā)射可見光；

·對準紡織材料相同區(qū)段發(fā)射紅外光譜中的輻射；

·探測來自紡織材料反射的可見光并產(chǎn)生對應(yīng)的第一探測器信號；

·探測來自紡織材料反射的在紅外光譜的幅射并產(chǎn)生對應(yīng)的第二探測器信號；

·確定兩個探測器信號的加權(quán)差值；

·以及當所述差值超過閾值時輸出指示污染物存在的信號。

10.如權(quán)利要求9的方法，包括的步驟為：

根據(jù)第二探測器信號使加權(quán)差值標稱化，其中標稱化通過如下實現(xiàn)，即把加權(quán)差值Dw確定為

Dw＝((k*Sv)-Si)/Si，

其中Sv是第一探測器信號值，而Si是第二探測器信號值，以及k為基本上恒定的加權(quán)系數(shù)。

11.如權(quán)利要求9到10之一的方法，包括的步驟為：

·利用來自第三探測器(24)的位置信號，以指示在紗線(1)中污染物是否存在，其中第三探測器(24)相對于紗線(1)與光源(2、3)相對布置。

12.如權(quán)利要求9到11之一的方法，包括的步驟為：

·確定可見光探測器(4)的采樣值Sv和紅外光探測器(5)的采樣值Si，并利用以下參數(shù)中至少兩個的組合，用于判定污染物是否存在以及是否應(yīng)該去除：

o兩個探測器信號比值Sv/Si與預(yù)定參照比值Y的偏差；

o可見光值Sv與預(yù)定參照值Yv的偏差；

oIR光值Si與預(yù)定參照值Yi的偏差；

o前面兩個偏差的比值。

13.如權(quán)利要求12的方法，包括的步驟為：

·確定兩個光譜信號的比值Sv/Si；把瞬間比值Sv/Si與預(yù)定最小閾值極限相比，以及如果信號超過此極限預(yù)定時間，則指示污染物存在；

·計算在可見光譜中光譜信號Sv與預(yù)定參照值Yv的偏差，以及如果此偏差超過預(yù)定極限，則指示第一類污染物存在；

·計算在紅外光譜中光譜信號Si與預(yù)定參照值Yi的偏差，以及如果此偏差超過預(yù)定極限，則指示第二類污染物存在；以及

·計算這兩個偏差的比值并根據(jù)此比值對污染物種類進行進一步分類。