[發明專利]用于過程控制系統的診斷設備

有效

• 申請號: 200580048350.4
• 申請日: 2005-02-15
• 公開（公告）號: CN101124523A
• 公開（公告）日: 2008-02-13
• 發明（設計）人: A·安登納;A·莫羅尼;G·因弗尼茲
• 申請（專利權）人: ABB研究有限公司
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418;G05B23/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 原紹輝;黃力行

1.一種診斷設備(10)，其包括

-用于接收過程的過程介質(2)的過程變量的過程變量值(x(t))的接收裝置(100)，

-用于從在測量階段(300)期間測量的這樣的過程變量值提取和記錄測量結果統計數據的測量結果處理裝置(300)，

其特征在于，該診斷設備包括

-用于從在訓練階段(200)期間測量的這樣的過程變量值提取和記錄訓練統計數據的訓練處理裝置(200)，及

-用于比較測量結果統計數據與在測量結果統計數據之前記錄的訓練統計數據的比較裝置(400)。

2.根據權利要求1所述的診斷設備(10)，其特征在于，其包括用于測量過程變量和用于產生過程變量值(x(t))的感測裝置(25)。

3.根據權利要求1或權利要求2所述的診斷設備(10)，其特征在于，比較裝置(400)具有與過程的狀況相關的狀況輸出(500)，其中，過程的狀況與過程變量的測量不同。

4.根據權利要求2和權利要求3所述的診斷設備(10)，其特征在于，狀況輸出(500)與感測裝置(25)的狀況相關。

5.根據前面的權利要求之一所述的診斷設備(10)，其特征在于，測量結果統計數據和訓練統計數據涉及過程介質(2)內攜帶的噪聲。

6.根據前面的權利要求之一所述的診斷設備(10)，其特征在于，訓練處理裝置(200)計算訓練經驗統計分布(250；251)。

7.根據權利要求6所述的診斷設備(10)，其特征在于，訓練經驗統計分布(250，251)為在訓練階段(200)期間測量的過程變量值(x(t))的函數的分布。

8.根據權利要求6所述的診斷設備(10)，其特征在于

-測量結果處理裝置(300)計算在測量階段(300)期間測量的過程變量值(x(t))的變換得到一組正交函數的系數X_m(k)，

-訓練處理裝置(200)計算在訓練階段(200)期間測量的過程變量值(x(t))的變換得到相同的組的正交函數的系數X_t(k)，及

-訓練經驗統計分布(250)為系數X_t(k)的函數的分布。

9.根據權利要求8所述的診斷設備(10)，其特征在于，變換為傅立葉變換和小波變換的組中的一個。

10.根據權利要求6-9之一所述的診斷設備(10)，其特征在于，訓練處理裝置(200)計算近似訓練經驗統計分布(250)的訓練解析分布函數(270；271)。

11.根據權利要求10所述的診斷設備(10)，其特征在于，訓練解析分布函數(270；271)為伽馬分布函數。

12.根據權利要求7和權利要求10所述的診斷設備(10)，其特征在于，測量結果統計數據包括在測量階段(300)期間測量的過程變量值的函數的平均值M_p，并且訓練處理裝置(200)作為訓練統計數據或作為訓練統計數據的一部分從訓練解析分布函數(270)計算下限值L_t，p和上限值U_t，p，并且比較裝置(400)在平均值M_p小于下限值L_t，p或大于上限值U_t，p的情況下輸出故障指示。

13.根據權利要求8和權利要求10或權利要求9和權利要求10所述的診斷設備(10)，其特征在于，測量結果統計數據包括系數X_m(k)的函數的平均值M_c，并且訓練處理裝置(200)作為訓練統計數據或作為訓練統計數據的一部分從訓練解析分布函數(271)計算下限值L_t，c和上限值U_t，c，并且比較裝置(400)在平均值M_c小于下限值L_t，c或大于上限值U_t，c的情況下輸出故障指示。