[發明專利]光纖母材的纖芯部非圓率測量方法

有效

• 申請號: 200580048284.0
• 申請日: 2005-12-20
• 公開（公告）號: CN101120231A
• 公開（公告）日: 2008-02-06
• 發明（設計）人: 飛坂優二;乙坂哲也;小山田浩
• 申請（專利權）人: 信越化學工業株式會社
• 主分類號: G01B11/08
• 分類號: G01B11/08;G01B11/24;G01M11/00
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 壽寧

1.一種光纖母材的纖芯部非圓率測量方法，其特征在于包括：

相對外徑值分布測量步驟，為從垂直于所述纖芯部中心軸的方向向浸泡在匹配油中的所述光纖母材照射光線，同時使所述光纖母材向平行于所述中心軸的方向移動，對所述光線中透過所述纖芯部的透過光線的寬度變化連同與所述光纖母材的移動量的關系進行記錄，獲得有關所述光纖母材的長度方向的所述纖芯部的相對外徑值分布，其中測量時的所述光纖母材的移動是在上部開口的容器內沿著垂直方向進行；

相對外徑值分布積累步驟，其每當繞著所述中心軸，使所述光纖母材旋轉至規定的旋轉角度時，執行所述相對外徑值分布測量步驟，并記錄相應于所述旋轉角度的多個所述相對外徑值分布；以及

非圓率計算步驟，其根據在所述相對外徑值分布積累步驟中積累的多個所述相對外徑值分布，計算出有關所述光纖母材長度方向的所述纖芯部的多個非圓率，

其中所述的規定旋轉角度為將所述光纖母材相對于所述中心軸的一次旋轉分割為7～20個的角度，

其中所述光纖母材通過可上下移動及旋轉的一個吊具保持垂直。

2.如權利要求1所述的光纖母材的纖芯部非圓率測量方法，其特征在于其中對于所述相對外徑值分布通過多項式逼近計算出近似值，將相對于所述近似值大幅脫離預先設定的容許范圍的測量值作為異常值排除后，計算所述纖芯部的非圓率。

3.如權利要求2所述的光纖母材的纖芯部非圓率測量方法，其特征在于其中所述近似值通過具有6～10次的次數的多項式逼近進行計算。

4.如權利要求1至3中任意一項所述的光纖母材的纖芯部非圓率測量方法，其特征在于其中所述相對外徑值分布通過在平行于所述中心軸的方向上以任意間隔測量后的多個相對外徑值的各個之間，根據鄰接于各個所述相對外徑值的所述相對外徑值進行插值而生成。