[發明專利]具有包覆層的互連結構及其制造方法有效
| 申請號: | 200580046544.0 | 申請日: | 2005-12-02 |
| 公開(公告)號: | CN101099235A | 公開(公告)日: | 2008-01-02 |
| 發明(設計)人: | L·A·克萊文格;T·J·達爾頓;L·C·蘇;C·J·拉登斯;T·E·斯坦德爾特;K·K·H·黃;楊智超 | 申請(專利權)人: | 國際商業機器公司 |
| 主分類號: | H01L21/4763 | 分類號: | H01L21/4763 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務所 | 代理人: | 于靜;劉瑞東 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 覆層 互連 結構 及其 制造 方法 | ||
1.一種制造互連結構的方法,包括如下步驟:
在介質材料中提供互連結構,
凹進所述介質材料,以使所述互連結構的一部分在所述介質材料的上表面上延伸;以及
在所述互連結構的所述延伸部分上沉積包覆層;
其中所述互連結構是具有尺寸寬度W的線互連,并且所述包覆層具有從1.1W到1.6W的尺寸寬度。
2.根據權利要求1的方法,還包括在所述包覆層上沉積層間介質材料。
3.根據權利要求2的方法,還包括在所述層間介質材料中形成溝槽或過孔,以使所述溝槽或過孔的底表面位于所述包覆層上。
4.根據權利要求1的方法,其中所述包覆層具有從1.2W到1.4W的尺寸寬度。
5.根據權利要求1的方法,還包括在所述層間介質材料中形成過孔,以使所述過孔的底表面位于所述包覆層上。
6.根據權利要求1的方法,其中通過無電鍍工藝沉積所述包覆層。
7.根據權利要求1的方法,其中所述包覆層是包括鎳或鈷的金屬合金。
8.根據權利要求1的方法,其中所述包覆層是CoWP。
9.根據權利要求2的方法,其中所述互連結構是具有尺寸直徑D的過孔,并且所述包覆層具有從1.1D到1.6D的尺寸直徑。
10.根據權利要求9的方法,其中所述包覆層具有從1.2D到1.4D的尺寸直徑。
11.根據權利要求9的方法,還包括在所述層間介質材料中形成溝槽,以使所述溝槽的底表面位于所述包覆層上。
12.根據權利要求1的方法,其中所述包覆層具有從到的厚度。
13.根據權利要求1的方法,其中所述互連結構的所述延伸部分從到
14.一種制造互連結構的方法,包括如下步驟:
在介質材料中提供互連線結構,
在鄰近所述互連線結構的區域中凹進所述介質材料,以使所述互連線結構的一部分在所述介質材料的上表面上延伸;
在所述互連線結構的所述延伸部分上沉積包覆層;
在所述包覆層上沉積層間介質;以及
在所述層間介質中形成過孔,以使所述過孔的底表面位于所述包覆層上;
其中所述互連結構具有尺寸寬度W,并且所述包覆層具有從1.1W到1.6W的尺寸寬度。
15.一種制造互連結構的方法,包括如下步驟:
在介質材料中提供互連過孔結構,
在鄰近所述互連過孔結構的區域中凹進所述介質材料,以使所述互連過孔結構的一部分在所述介質材料的上表面上延伸;
在所述互連過孔結構的所述延伸部分上沉積包覆層;
在所述包覆層上沉積層間介質材料;以及
在所述層間介質材料中形成溝槽,以使所述溝槽的底表面位于所述包覆層上;
其中所述互連過孔結構的直徑具有尺寸直徑D,并且所述包覆層具有從1.1D到1.6D的尺寸直徑。
16.一種互連結構,包括位于介質材料中的金屬導體,所述金屬導體的一部分在所述介質材料的表面上延伸,其中用覆層包覆所述金屬導體的所述延伸部分,其中所述金屬導體是具有尺寸寬度W的線互連,并且所述覆層具有從1.1W到1.6W的尺寸寬度。
17.根據權利要求16的互連結構,其中所述金屬導體是線互連或過孔互連。
18.根據權利要求16的互連結構,其中所述覆層具有從1.2W到1.4W的尺寸寬度。
19.根據權利要求16的互連結構,其中所述互連結構是具有尺寸直徑D的過孔,并且所述覆層具有從1.1D到1.6D的尺寸直徑。
20.根據權利要求16的互連結構,其中所述覆層具有從1.2D到1.4D的尺寸直徑。
21.根據權利要求16的互連結構,其中所述覆層具有從到的厚度。
22.根據權利要求16的互連結構,其中所述互連結構的所述延伸部分從到
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