[發(fā)明專(zhuān)利]用于檢測(cè)高頻信號(hào)的傳感器無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200580045666.8 | 申請(qǐng)日: | 2005-11-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101203766A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-06-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 肯尼斯·E.·薩爾斯曼;丹尼爾·W.·索 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 森特拉公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R29/10 | 分類(lèi)號(hào): | G01R29/10 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 馬浩 |
| 地址: | 美國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 檢測(cè) 高頻 信號(hào) 傳感器 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
[1]本發(fā)明涉及設(shè)計(jì)用來(lái)感測(cè)RF信號(hào)的裝置或者系列裝置,更具體來(lái)說(shuō),涉及設(shè)計(jì)用來(lái)感測(cè)千兆赫和兆兆赫區(qū)域中的RF信號(hào)的裝置或者系列裝置。
背景技術(shù)
[2]千兆赫(GHz)和兆兆赫(THz)區(qū)域的微波光譜被認(rèn)為是其中在沒(méi)有破壞性地電離原始分子的情況下可以檢測(cè)到巨大的分子共振的區(qū)域。尤其感興趣的是,在從醫(yī)用感測(cè)傳感器到生物恐怖(bio-terrorism)警告?zhèn)鞲衅鞯膽?yīng)用中,測(cè)量大分子的分子振動(dòng)的能力。用于感測(cè)這些區(qū)域的檢測(cè)機(jī)制主要取決于在極敏感的測(cè)輻射熱計(jì)中感應(yīng)的熱變化。這種裝置通過(guò)將RF能量轉(zhuǎn)換為測(cè)輻射熱計(jì)元件中的熱變化來(lái)響應(yīng)接收信號(hào),其中,測(cè)輻射熱計(jì)元件中的熱變化又產(chǎn)生應(yīng)力。通過(guò)當(dāng)該元件相對(duì)于感測(cè)電極運(yùn)動(dòng)時(shí)檢測(cè)電容偏移的靜態(tài)變化,可以測(cè)量該應(yīng)力。先進(jìn)的測(cè)輻射熱計(jì)用于天文學(xué)和利用超導(dǎo)材料的熱電子的其它應(yīng)用,例如,當(dāng)給裝置提供功能的電子具有比其它的電子更多的能量時(shí)。雖然這些系統(tǒng)極度靈敏,但是它們也極度昂貴,并且需要具有重要的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)的設(shè)備來(lái)操作它們。這些方法為每個(gè)元件提供窄頻響應(yīng),并且需要一系列的窄響應(yīng),其中,該陣列中的每個(gè)元件具有稍微不同的響應(yīng)區(qū)域,或者,這些方法在其接收帶寬內(nèi)提供大量的數(shù)據(jù)(但是,沒(méi)有頻率測(cè)量)。
[3]因此,需要存在這樣一種傳感器,該傳感器能夠與寬帶發(fā)射器一起工作,并且能夠提供對(duì)接收信號(hào)的頻率映射,從而簡(jiǎn)化光譜分析所需的電子裝置。此外,還需要這樣一種裝置,其設(shè)計(jì)成具有各種靈敏度或者增益,以用于各種不同的環(huán)境和應(yīng)用中。
發(fā)明內(nèi)容
一種感測(cè)入射RF輻射的傳感器,該傳感器包括:天線(xiàn),其適用于接收所述入射RF輻射;懸臂,其與所述天線(xiàn)電耦合,其中,所述懸臂受所述接收的入射RF輻射的影響;轉(zhuǎn)換器,其用于將所述懸臂上的影響轉(zhuǎn)換為表示所述接收的入射RF輻射的可測(cè)量的信號(hào);以及檢測(cè)器,用于感測(cè)所述可測(cè)量的信號(hào),其中,檢測(cè)到的感測(cè)的可測(cè)量的信號(hào)表示所述接收的入射RF輻射。或者,可以使用箱型結(jié)構(gòu)或者干涉儀代替懸臂。所述傳感器能夠感測(cè)GHz和THz區(qū)域中的RF信號(hào)。
附圖說(shuō)明
[4]鑒于下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)描述,有助于理解本發(fā)明,在附圖中,相同的標(biāo)記表示相同的部件,其中:
[5]圖1示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的用于感測(cè)RF信號(hào)的傳感器;
[6]圖2示出本發(fā)明的變型,其中,將標(biāo)記加入到圖1的裝置上;
[7]圖3示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的傳感器;
[8]圖4示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的利用傳感器原理的干涉式傳感器;
[9]圖5示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的用于裝置中的反射電極;
[10]圖6示出利用基于法布里-珀羅的光纖的本發(fā)明的實(shí)施例;
[11]圖7示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的箱型MEMS傳感器;
[12]圖8示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的另一可選的箱型MEMS傳感器;
[13]圖9示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的另一可選的箱型MEMS傳感器,其示出用于圖8的傳感器的接觸器;
[14]圖10示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的另一可選的箱型MEMS傳感器,其示出用于圖8的傳感器的偏置錨(offset?anchor);
[15]圖11示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的光電MEMS陣列傳感器;
[16]圖12示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的用于圖11的光電像素陣列的平面圖;
[17]圖13示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的圖11中的選擇部分13的放大平面圖(即,為了簡(jiǎn)單起見(jiàn),除去像素陣列基板和光電像素);
[18]圖14示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的RF?MEMS陣列傳感器;
[19]圖15示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的用于圖14的RF天線(xiàn)像素陣列的平面圖;以及
[20]圖16示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面的圖14中的選擇部分16的放大平面圖(即,為了簡(jiǎn)單起見(jiàn),除去像素陣列基板和RF天線(xiàn)像素);
具體實(shí)施方式
[21]應(yīng)當(dāng)理解,本發(fā)明的附圖和描述簡(jiǎn)化了,以示出與清楚地理解本發(fā)明有關(guān)的元件,然而,為了清楚起見(jiàn),取消在典型的傳感裝置中出現(xiàn)的很多其它元件。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將會(huì)認(rèn)識(shí)到,在實(shí)施本發(fā)明中,其它元件和/或步驟是希望的和/或必需的。然而,因?yàn)檫@些元件和步驟是本領(lǐng)域熟知的,并且,因?yàn)樗鼈儗?duì)更好地理解本發(fā)明沒(méi)有幫助,所以這里不討論這些元件和步驟。本文的公開(kāi)內(nèi)容涉及對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員所知的這些元件和方法的所有的這種改變和修改。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于森特拉公司,未經(jīng)森特拉公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200580045666.8/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量,如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量,即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商;峰值因數(shù)的測(cè)量,即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 信號(hào)調(diào)制方法、信號(hào)調(diào)制裝置、信號(hào)解調(diào)方法和信號(hào)解調(diào)裝置
- 亮度信號(hào)/色信號(hào)分離裝置和亮度信號(hào)/色信號(hào)分離方法
- 信號(hào)調(diào)制方法、信號(hào)調(diào)制裝置、信號(hào)解調(diào)方法和信號(hào)解調(diào)裝置
- 信號(hào)調(diào)制方法、信號(hào)調(diào)制裝置、信號(hào)解調(diào)方法和信號(hào)解調(diào)裝置
- 雙耳信號(hào)的信號(hào)生成
- 雙耳信號(hào)的信號(hào)生成
- 信號(hào)處理裝置、信號(hào)處理方法、信號(hào)處理程序
- USBTYPEC信號(hào)轉(zhuǎn)HDMI信號(hào)的信號(hào)轉(zhuǎn)換線(xiàn)
- 信號(hào)盒(信號(hào)轉(zhuǎn)換)
- 信號(hào)調(diào)制方法、信號(hào)調(diào)制裝置、信號(hào)解調(diào)方法和信號(hào)解調(diào)裝置





